分辨率测试卡(斜边ISO 12233:2014)简介
分辨率测试卡TE275设计用于使用斜边测量静态相机的分辨率。
在TE268和TE253（正弦西门子星）和TE252（分辨率的视觉评估）旁边，斜边是ISO 12233标准中描述的用于分辨率测量的第三种模式。
分辨率测试卡TE275包含九个斜边结构，每个具有两个垂直和两个水平边缘，并且在中心具有聚焦辅助。倾斜边缘结构倾斜5°，并具有ISO 12233：2014要求的低对比度（调制在0.55和0.65之间）。背景根据ISO12233：2014提供0.15和0.25之间渐变。
斜边以一种方式布置，以在轴向信息上递送50％场位置（4:3纵横比）和70％场位置处的信息。
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分辨率测试卡
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