北京冠测(多图),石墨电极电阻率的现场测量免费咨询

? 硬件系统

由插卡和数据处理器板组成，插卡可以是 8 通道的测量卡或 40 路报

警输出的报警卡。每张测量卡上有***的处理器和 AD 转换器，对 8 路通道信

号进行轮询式测量。处于插槽的插卡可以实现高速通讯模式。

? 测量信号

直流电阻，它的量程范围为 300mΩ～300kΩ，可以测试 10?Ω～320kΩ的电阻，

大显示 32000 数。测试速度30 次/秒。

? 数据保存功能

测量数据按照定的周期写入内存。内存中的数据可以自动或手动保存到 U 盘。

? 显示功能

对每个通道的测量数据可以进行数字显示。并且，还可以在总览画面中同时显

示并监测所有的测量通道。

? 通讯功能

用户可以通过 RS232/RS485 接口和上位机进行通讯，使用协议为 MODBUS 协议。

? 应用场合

UC2517MX 可测量各种高、中、低值电阻器；各种开关接触电阻；接插件接触电

阻；继电器线包和触点电阻；变压器、电感器、电机、偏转线圈绕线电阻；导

线电阻；车、船、飞机的金属铆接电阻；印制版线条和孔化电阻等。

采用两个或多个单元从而实现分布式电缆的多端测试。将被测线缆连接到相应的连接器，选择其中的一个单元作为主机，碳素材料电阻率测试推荐，检索先前存储的线束，将线束分别连接至测试仪即可实现测试。在较短时间内就会向用户报告诸如打开、短路、交叉线或高电阻等故障。可选的TDR特性允许您不仅诊断连接器故障，还可以将故障追溯到线束中的特***

探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。

有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；

《四探针探头特点与选型参考》点击进入仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

可测材料尺寸 手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下： 直 径：圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。 方测试台直接测试方式180mm×180mm。 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。. 测量方位: 轴向、径向均可.

（2）恒流源：

输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档

10mA量程：0.1～1mA 连续可调

10mA量程：1mA ～10mA连续可调

恒流精度：各档均优于±0.1%

适合测量各种厚度的硅片

（3） 直流数字电压表

测量范围：0～199.9mv

灵敏度：100μv

准确度：0.2%（±2个字）

（4） 供电电源：

AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W

（5） 使用环境：

相对湿度≤80%

（6） 重量、体积

重量：2.2 公斤

体积：宽210×高100×深240（mm）

(7)KD探针头

压痕直径：30/50μm

间距：1.00mm

探针合力：8±1N

针材：TC