光谱分析法
光谱分析法
光谱分析法是根据物质的光谱来鉴别物质及确定其化学组成 和相对含量的方法，是以分子和原子的光谱 学为基础建立起的分析方法。包含三个主要 过程：①能源提供能量；②能量与被测物质 相互作用；它根据被检工件的成分、密度、厚度的不同，而对射线产生不同的吸收或者散射的特性，从而得到被检工件的质量、尺寸、特性的判断。③产生被检测讯号。光谱法分类 很多，用物质粒子对光的吸收现象而建立起的 分析方法称为吸收光谱法，如紫外-可见吸收 光谱法、红外吸收光谱法和原子吸收光谱法 等。利用发射现象建立起的分析方法称为发射 光谱法，如原子发射光谱法和荧光发射光谱法 等。由于不同物质的原子、离子和分子的能级 分布是特征的，则吸收光子和发射光子的能量也是特征的。以光的波长或波数为横坐标，以 物质对不同波长光的吸收或发射的强度为纵坐 标所描绘的图像，称为吸收光谱或发射光谱。
可利用物质在不同光谱分析法的特征光谱对其 进行定性分析，根据光谱强度进行定量分析。
什么是近表面缺陷
近表面缺陷的检测在无损检测中是一个传统而典型的研究课题。
近表面缺陷的检测方法很多，比如，脉冲超声波反射法、磁粉探伤法、涡流检测方法、磁记忆检测法、漏磁检测法、磁悬液检测法、爬波检测法、表面波检测法及热像图法等。这些方法一般都有各自的测试对象及测试环境要求，没有一种可用于任何测试场合的通用方法。这也是多种方法并存的原因。在脉冲超声反射检测法中，靠近介质界面的缺陷被淹没在回波信号中，很难有效分离，导致测量盲区的存在。从信号时域的角度考虑，就是信号在时域的到达时刻比较接近，一个信号还没有结束，而另一个信号已经到达。在缺陷的超声检测中，出现这种现象主要有以下两种情况。种情况是，传感器发射的脉冲超声波耦合到接收电路产生的信号还没有结束，近表面缺陷的超声回波就已到达。这时，放大电路尚未正常工作，使缺陷回波信号变小，且两信号混叠在一起，导致近表面缺陷无法检出。γ射线波长从10^-10～10^-14米的电磁波，γ射线的穿透力很强，对生物的***力很大，可以细。
什么是TOFD
超声波衍射时差法，是一种依靠从待检试件内部结构(主要是指缺陷)的“端角”和“端点”处得到的衍射能量来检测缺陷的方法，用于缺陷的检测、定量和***。
TOFD技术与传统脉冲回波技术的的两个区别在于:
A) 更加的尺寸测量精度(一般为±1mm，当监测状态为±0.3mm)，且检测时与缺陷的角度几乎无关。尺寸测量是基于衍射信号的传播时间而不依赖于波幅。
B) TOFD技术不使用简单的波幅阈值作为报告缺陷与否的标准。由于衍射信号的波幅并不依赖于缺陷尺寸，在任何缺陷可能被判不合格之前所有数据必须经过分析，因此培训和经验对于TOFD技术的应用是极为基本的要求。
TOFD技术的物理原理
衍射现象是TOFD技术采用的基本物理原理。
衍射现象的解释:波遇到障碍物或小孔后通过散射继续传播的现象，根据惠更斯原理，媒质上波阵面上的各点，都可以看成是发射子波的波源，其后任意时刻这些子波的包迹，就是该时刻新的波阵面。
TOFD工作原理
TOFD技术采用一发一收两个宽带窄脉冲探头进行检测，探头相对于焊缝中心线对称布置。发射探头产生非聚焦纵波波束以一定角度入射到被检工件中，其中部分波束沿近表面传播被接收探头接收，部分波束经底面反射后被探头接收。接收探头通过接收缺陷的衍射信号及其时差来确定缺陷的位置和自身高度。又可由回波信号出现的位置来确定缺陷距探测面的距离，实现缺陷***。
非缺陷引起的磁痕有几种？
答：1、局部冷 作硬化，由材料导磁变化造成的磁痕聚集；2、两种不同材料的交界面处磁粉堆积；3、碳化物层***偏析；4、零件截面尺寸的突变处磁痕；5、磁化电流过高，因金属流线造成的磁痕；6、由于工件表面不清洁或油污造成的斑点状磁痕。
、磁粉检验规程包括哪些内容？
答：1、规程的适用范围；2、磁化方法（包括磁化规范、工件表面的准备）；3、磁粉（包括粒度、颜色、磁悬液与荧光磁悬液的配制）。4、试片；5、技术操作；6、质量评定与检验记录。
、磁粉探伤适用范围？
答：磁粉探伤是用来检测铁磁性材料表面和近表面缺陷的种检测方法。