IC老化测试座(DIP封装)
该系列夹具适用于DIP封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、***、科研院所、电子、通讯
产品型号及规格;
IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J(K)宽跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄脚、IC-28J、IC-28J(K)宽跨度、IC-40J
主要技术指标;
间距;2.54mm 环境温度;-55℃—+155℃
接触电阻;≤0.01欧 工作电压;DC500V
单脚插入力;≤0.2Kg 弹片金层厚度;1um镍2um金
插拔寿命;高低温状态下插拔寿命;2000-3000次