危害磁控溅射匀称性的要素
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靶基距、标准气压的危害靶基距都是危害磁控溅射塑料薄膜薄厚匀称性的关键加工工艺主要参数，塑料薄膜薄厚匀称性在必须范围之内随之靶基距的扩大有提升的发展趋势，无心插柳工作中标准气压都是危害塑料薄膜薄厚匀称性关键要素。其***可以出示物件表层强度进而提升有机化学可靠性能，可以增加物件应用周期时间。可是，这类匀称是在小范围之内的，由于扩大靶基距造成的匀称性是提升靶上的一点儿相匹配的板材上的总面积造成的，而提升工作中标准气压是因为提升物体光学散射造成的，显而易见，这种要素只有在小总面积范围之内起***。
磁控溅射镀膜机工艺
关键工艺参数的优化
关键工艺参数的优化基于实验探索。由金属靶面通过反应溅射工艺形成化合物的过程中，化合物是在哪里形成的呢。实验是在自制的双室直流磁控溅射镀膜设备上进行的。该设备的镀膜室采用内腔尺寸为6700mm ×800mm ×2060mm的箱式形状,抽气系统采用两套K600 扩散泵机组,靶材采用德国Leybold 公司生产的陶瓷靶,ITO 薄膜基底是尺寸为1000mm ×500mm ×5mm 的普通浮法玻璃。
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磁控溅射镀膜机
由于ITO 薄膜的导电属于n 型半导体性质,即其导电机制为还原态In2O3 放出两个电子,成为氧空穴载流子和In3 ,被固溶的四价掺锡置换后放出一个电子成为电子载流子。显然,不论哪一种导电机制,载流子密度均与溅射成膜时的氧含量有很大关系。另一方面也提高了入射到衬底表面的原子的能量，因而可以在很大程度上改善薄膜的质量。随着氧含量的增加,当膜的组分接近化学配比时,迁移率有所增加,但却使载流子密度有所减少。这两种效应的综合结果是膜的光电性能随氧含量的变化呈极值现象。对应极值的氧含量直接决定着“工艺窗口”的宽窄,它与成膜时的基底温度、气流量及膜的沉积速率等参数有关。为便于控制氧含量,我们采用混合比为85∶15 的氧混合气代替纯氧,气体喷孔的设计保证了基底各处氧分子流场的均匀性。
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