江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪研发生产厂 一六仪器一liu品质 可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟,欢迎来电咨询!
性能优势：
下照式设计：可以快速方便地***对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
率的jie shou qi：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
EFP***算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
激光测厚仪的技术指标介绍
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。4)仪表柜、主控台，就地控制箱和前置放大器箱的安装，根据现场施工条件分头进行吊装。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
江苏一六仪器有限公司
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什么是涂层测厚仪
什么是涂层测厚仪？不同类型的测厚仪，对应不一样的行业，适用范围也有所不同，那么我们在选购测厚仪时，就需要对特定的测厚仪有所了解，那么这次就先来了解下涂层测厚仪的概念。
涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等） 及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。
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X射线测厚仪测量精度的影响因素
X射线源的衰减对于工厂现场的的标定过程中,随着使用时间的增加,灯管的曲线会发生变化,在同一电压下,随着使用灯管时间的递加,厚度偏差会越来越大,因此,X射线源的衰减,是影响测量精度的一个主要原因。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。除了正常使用过程中X射线源会出现衰减,在出现某些故障是,也会发生突发性的衰减,出现标准化通过不过,反馈的电压与工厂现场标准电压相差巨大,发生这种情况,X射线测厚仪的测量精度肯定是不准确的。
