主导USB规范制定与开发的USB开发者论坛USB-IF日前正式宣布，C型USB接口设计已定型。这种新式USB接口可以取代现有所有尺寸的USB连接器接口。像苹果的Lightning一样，新的连接器无论正接、反接均可正常运作。
USB-IF宣布，新一代USB连接器与当前USB 2.0 Type-B连接器大小类似，后者是除苹果手机和平板电脑外常见的连接器。新式连接器性能可靠，足以支持笔记本电脑和平板电脑使用。同时其体型小巧，也适用于手机使用。这种连接器的开口规格为8.4毫米×2.6毫米。
很多人会说一个电子零件自身就可包容很多的电荷，为何会呈现静电损害导致击穿呢？由于静电自身就存在高电位差即高电压。而这种静电在对电子零件开释的时分就会构成高电压击穿电容的状况，由于电子零件自身可承受的电压比较小，所以很简单被击穿。静电除了对接线端子等电路板上元器材构成损害之外，另一种损害就是高压静电发作静电场、吸附尘埃等物质，这些物质在吸收了空气中的水分之后构成导电构成电路板短路。
电路上振荡速率变得更快(上升/下降时间)，电压/电流幅度变得更大，问题变得更多。因此，今天同以前相比，解决电磁兼容性(EMC)就更艰难了。
于是，尽管在电路中有很可能产生不希望的干扰，噪声几乎总是共模型的。一旦在输入/输出(I/O)连接器和机壳或地平面之间接入电缆，有某些RF电压出现时，导致几毫安的RF电流就能足以超过允许的发射电平。
于是，铁芯扼流圈，绕制在铁氧体棒上，在棒周围产生强的电磁场，在电极附近有强的场强。在使用回描结构的开关电源中，变压器上必定有一个空隙， 其间有很强的磁场。在其中保持磁场合适的元件是螺旋管，使电磁场沿管芯长度方向分布。这就是在高频工作的磁性元件优选螺旋结构的原因之一。
不恰当的去耦电路通常也变成干扰源。如果电路要求大的脉冲电流，以及局部去耦时不能保证小电容或十分高的内阻需要，则由电源回路产生的电压就下降。这相当于纹波，或者相当于终端间的电压快速变化。由于封装的杂散电容，干扰能耦合到其它电路中去，引起共模问题。
