江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
一六仪器 X荧光光谱测厚仪
镀层分析X射线荧光光谱特点
1.镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，分析精度高。
2.可测试超薄的镀层。
3.可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。
4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，选择合适的对比分析样品，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。
5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。
6.对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别
7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。
8.可以对样品进行测试
9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样
江苏一六仪器 我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。数据报告：对测量的数据结果进行对比和分析，判断数据是否正常，若出现异常可进行多次测量排除偶然误差14。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。
-样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
7计算机系统配置IBM计算机:1.6G奔腾IV处理器，256M内存，1.44M软驱，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，17寸彩显，56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。
8分析应用软件操作系统:Windows2000中文平台中文分析软件包:***artLinkFP软件包
X射线荧光光谱测厚仪定量分析
利用荧光X射线进行定量分析的时候，大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品，寻求想测定元素的荧光X射线强度和浓度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得荧光X射线，从而得到浓度值。
另一个方法是理论演算的基础参数法(FP法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个荧光X射线强度的理论值，推测测定得到未知样品各个元素的荧光X射线强度的组成一致。
