光谱膜厚仪-德州测厚仪-一六仪器有限公司(查看)

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业，欢迎有各种涂镀层、膜层的检测难题来电咨询！。

测厚仪

测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。

介绍：测厚仪可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。

江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪研发生产厂 一六仪器一liu品质 可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟，欢迎来电咨询!

性能优势：

下照式设计：可以快速方便地***对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

率的jie shou qi：即使测试0.01mm2以下的样品，光谱膜厚仪，几秒钟也能达到稳定性。

EFP***算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

激光测厚仪的技术指标介绍

激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。

一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪

一六仪器研发生产的X荧光光谱仪，稳定的多道脉冲分析采集系统，专利独特聚焦和变距设计，多元EFP算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

涂层测厚仪操作规程有哪些

我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，德州测厚仪，那么就很容易出现一些问题，甚至严重的可能会对自身产生威胁，电镀测厚仪，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：

一、技术参数

采用了磁性和涡流两种测厚方法。通过选择相应的测头，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；

测量范围：（0~1250）μm（F1、N1测头），光谱分析仪，F10测头可达10mm；

分辨率：0.1μm（F1、N1测头）

示值精度：±（3％H 1）μm；H为被测涂层厚度

显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；

存储容量：可存储20组（每组多50个测量数值）测量数据

单位制：公制μm、英制（mil）、可自由转换 ? 工作电压：3V（2节5号碱性电池）

持续工作时间：大于200小时（不开背光灯）

通讯接口：USB1.1，可与PC机连接、通讯