分辨率测试卡(斜边ISO 12233:2014)简介
分辨率测试卡TE275设计用于使用斜边测量静态相机的分辨率。
在TE268和TE253（正弦西门子星）和TE252（分辨率的视觉评估）旁边，斜边是ISO 12233标准中描述的用于分辨率测量的第三种模式。
分辨率测试卡TE275包含九个斜边结构，每个具有两个垂直和两个水平边缘，并且在中心具有聚焦辅助。倾斜边缘结构倾斜5°，并具有ISO 12233：2014要求的低对比度（调制在0.55和0.65之间）。背景根据ISO12233：2014提供0.15和0.25之间渐变。
斜边以一种方式布置，以在轴向信息上递送50％场位置（4:3纵横比）和70％场位置处的信息。
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反差分辨测试卡
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Imatest 5.0的新功能中，其中有一项是支持一款新的HDR测试卡，叫做Contrast Resolution Chart. 它是为对比度的可视化和测试而设计的（在较大的亮度范围内的低对比度物体的可见度）。这张测试卡对对于汽车和安防行业的宽动态范围测试应用很有帮助。Imatest在IEEE P2020汽车影像标准会议上推荐了这张测试卡和测试方法。
对比度分辨率图是由两层8×10英寸胶片制成。该图卡包含20个灰阶，密度从OD=基材密度 0.15，至基材密度 4.90，每一级相当于OD=0.25，西门子星图测试卡，如果计算从亮到暗的色块，总密度范围是5.05 OD = 101dB）。大的灰阶块被用于噪点测试，因为小的色块，对于噪点分析来说太小了。
P1858多功能测试卡
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在Imatest5.0及以上版本的任意卡模块使用P1858多功能测试卡可以分析包括清晰度，噪点和纹理模糊等一些重要的图像质量参数。
P1858多功能测试卡是根据2016 IEEE P1858 CPIQ标准制定的测试卡，根据这张测试卡可以分析SFR，西门子星图测试卡报价，机器视觉，色彩均匀性，横向色差以及纹理模糊。可以依据这些标准直接分析这些功能参数。在任意模块可以从一张图片中就可以得到这五种图像质量参数数据。
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