一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件，涂层测厚仪，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
在我们的售前服务工作中，客户通常都会拿一些在其它机构或者仪器测量过的样品来与我们仪器进行测试结果对比，在确认双方仪器都是正常的情况下，会存在或多或少的差异，那么我们务必要把这个差异的来源分析给客户，金华测厚仪，我们在分析之前首先要给客户解说测试的基本原理，告知此仪器为对比分析测试仪器，然后再谈误差来源，主要来源：
1、标样：对比分析仪器是要求有越接近于需测试样品的标样，测试结果越接近实际厚度。确认双方有没有在标定和校正时使用标样？使用的是多少厚度的标样？
2、样品材料的详细信息：如Ni/Cu的样品，如果一家是按化学Ni测试，一家是按纯Ni测试；Au/Ni/Cu/PCB样品，一款仪器受Br干扰，一款仪器排除了Br干扰。
3、测量位置、面积：确定在同一样品上测试的是否同一位置，因为样品在电镀时因电位差不同，各部位厚度是有差异的；确认两款仪器测量面积的大小有多少差异。
4、样品形状：测量的样品是否是两款仪器都可测量，或者放置位置是否合适，如突出面有无挡住设备接收。
X射线测厚仪结构
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um
（一）、外部结构原理图
X荧光做镀层分析时，根据射线是至上而下照射样品，还是至下而上照射样品的方式，将X荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。
（二）、各种外部结构的特点
1、上照射方式
用于照射(激发)的X射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的Z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，电镀测厚仪，确保测量的准确性。
①、Z轴的移动方式
根据Z轴的移动方式，分为自动和手动两类；
自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，其光斑对焦的重现性与准确度都很高，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），一般只需要用鼠标在图像上点击一下即可***。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，也是目前主流的分析设备类型。
手动型设备，一般需要用人观察图像的方式，根据参考斑点的位置，手动上下调节Z轴方向，以达到准确对焦的目的。因此，往往在测试对象几何结构基本上没有变化的情况下使用比较快捷。②、X、Y轴水平移动方式
水平移动方式一般分为：无X、Y轴移动装置；手动X、Y轴移动装置；电动X、Y轴移动装置；全程控自动X、Y轴移动装置。
这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，例如：使用无X、Y轴移动装置的也很多，结构简单，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，荧光测厚仪，***比较容易的测试对象。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
江苏一六仪器 能量色散X射线荧光光谱测厚仪
X射线的产生利用X射线管(图2)，施加高电压以加速电子，使其冲撞金属阳极(对阴极)从而产生X射线。从设计上分为横窗型(side window type)和纵窗型(end window type)两种X射线管，都是设计成能够把X射线均匀得照射在样品表面的结构。
X射线窗口，一般使用的是铍箔。阴极(也叫做:靶材)则多使用是钨(W)、铑(Rh)、钼(Mo)、铬(Cr)等材料。这些靶材的使用是依据分析元素的不同而使用不同材质。原则上分析目标元素与靶材的材质不同。
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