激光轮廓仪原理
增加的一个测量维度，使轮廓扫描仪传感器比其他类型位移传感器更加复杂。基本上讲，不可以简单判断一个被测物体是否可以被轮廓扫描仪传感器测量。粗糙度仪和轮廓仪的区别关于三坐标测量轮廓度及粗糙度三坐标测量机是不能测量粗糙度的，至于测量零件表面的轮廓仪，要视三坐标的测量精度及零件表面轮廓度的要求了，如果你的三坐标测量机精度比较高，但零件轮廓度要求不可，是可以用三坐标来代替的。成功的测量往往取决于要取得哪个测量值以及在什么环境下进行测量。因此测量是否可行需要从头评估每一件被测物品。不能简单的认为一个静态测量可行，就一定意味着动态测量也是可行的。
表面粗糙度测量方法1. 比较法使用于车间现场测量，常用于中等或较粗糙表面的测量。方法是将被测量表面与标有一定数值的粗糙度样板比较来确定被测表面粗糙度数值的方法。机械探针式测量方法是开发较早、研究***充分的一种表面轮廓测量方法。2. 这两种测量工具都有电子计算电路或电子计算机，它能自动计算出轮廓算术平均偏差Ra，微观不平度十点高度Rz，轮廓1大高度Ry和其他多种评定参数，测量，适用于测量Ra为0.025～6.3微米的表面粗糙度。
由于采样方式的限制，国内同行无法反映X轴光栅的实际精度。轮廓仪***的采集方式能充分发挥X轴光栅的精度，X轴的精度是国内光栅的12倍！在集成电路行业，光学轮廓仪可以测量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度。对于真正的大量程设计，右杆的长度(测量针的末端)为280毫米！当杆长到足以实现同样的高度测量时，摆角较小Z轴传感器的实际量程为12毫米，杠杆比仅为1≤2.2！地保持了传感器的原有精度，Z轴传感器的精度是国内同行在全量程下的8倍！
