能量色散X射线荧光光谱仪技术原理
江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪
稳定的多道脉冲分析采集系统,专利独特聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例
能量色散X射线的发生与特征当用高能电子束照耀样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这种带电拉子的负的加快度会发生宽带的延续X射线谱，简称为延续潜或韧致辐射。
另一方面，化学元素遭到高能光子或粒子的照耀，如内层电子被激起，则当外层电子跃迁时，就会出特征X射线。
能量色散X射线是一种别离的不延续谱.假如激起光源为x射线，则受激发生的x射线称为二次X射线或X射线荧光。特征X射线显示了特征能量色散X射线荧光光谱仪发生的进程。
当人射x射线撞击原子中的电子时，如光子能量大于原子中的电子约束能，电子就会被击出。这一互相效果进程被称为光电效应，被打出的电子称为光电子。经过研讨光电子或光电效应可以取得关于原子构造和成键形态的信息。
一六仪器_光谱测厚仪研发生产厂家一六仪器一liu品质,可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟,多小多复杂的样品轻松搞定,欢迎来电咨询!
常见几种测厚仪的工作原理是什么：
2、测厚仪原理--X射线测厚仪
X射线测厚仪：此类测厚仪利用的是当X射线穿透被测材料时，X射线强度的变化与材料厚度相关联的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。
3、测厚仪原理--超声波测厚仪
超声波测厚仪：这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲会发生反射而返回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间，来计算被测材料的厚度。
一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪
一六仪器研发生产的X荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,专利独特聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例
涂层测厚仪操作规程有哪些
我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至严重的可能会对自身产生威胁，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：
二、 操作流程图
开启仪器 —— 校准仪器 —— 进行测量 —— 关闭仪器
三、操作步骤
基本测量步骤
1. 准备好待测工件；
2. 将测头插头插入主机的测头插座中；
3. 仪器开机；
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。
影响涂层测厚仪精准度的因素有哪些
影响涂层测厚仪精准度的因素有哪些？生产产品过程中，可能就因为一点点的误差，可能这批产品就成了报废品，而这种情况在批量生产的厂家中为常见，也是需要注意的一个点。因此我们也就得对影响涂层测厚仪精准度的因素有所了解了。
3)人为因素。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。这中情况经常会发生在新用户的身上。涂层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。
