光电直读光谱仪（OES）
光电直读光谱仪又被称为火花源原子发射光谱仪，所采用的原理是用火花的高温使样品中各元素从固态直接气化并被激发而发射出各元素的特征波长，用光栅分光后，成为按波长排列的“光谱”，这些元素的特征光谱线通过出射狭缝，照射在对应的光电倍增管光阴极上，光信号变成电信号，经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换，然后由计算机处理，计算出各元素的百分含量。
组成：其核心部件主要包括光源、分光系统、检测器等。
用途：光电直读光谱分析已成为一项成熟的分析技术，具有样品处理简单、分析速度快、分析精度高、多元素同时分析等特点，几乎所有的钢铁企业、有色金属企业、铸造及机械加工企业，以及其他采用金属及其合金进行加工利用的行业都采用光电直读光谱仪进行生产过程及产品质量控制。
品牌：岛津、牛津仪器 次数用完API KEY 超过次数限制
直读光谱仪仪器的校准应先由硬件开始，然后才是软件。直读光谱仪的校准手段如下:描迹是对光谱仪的光学系统进行的校准。这是校准的首要前提。
在此条件下可进行如下校准:标准化即再校准工作曲线，然后可用到的校准方法有:(1)、修改持久工作曲线法(修改标准化参数)(2)、控样法;(3)、类型标准化法。(1)机械校准(2)光学校准(3)电气校准(4)软件校准我觉得校准应该是包括硬件校准和软件校准。
直读光谱仪直读光谱仪器硬件包括狭缝校准、入射窗口清洁、负高压系统、光电转换等。这是仪器正常工作的先觉条件。软件包括:完全标准化，类型标准化(控样校准)等。完全标准化是用于校正仪器的漂移而引起的工作曲线的变化。而控样校准可以修正样品冶炼方式与工作曲线(即与做工作曲线的标样的冶炼方式的差异)。 次数用完API KEY 超过次数限制
在实际分析中会受到第三元素的影响，这些干扰从何而来，我们能够克服它们得到一个好的分析结果吗？直读光谱仪应用的过程中受那些干扰?直读光谱仪中有关第三元素影响的问题
当选择了不适宜的基体内标时，由于基体含量的变化造成分析线对相对强度的变化，影响结果的稳定。当用铁内标进行低合金钢分析时，要求基体含量基本不变。
第三元素的存在影响试样的蒸发过程。蒸发过程对谱线强度的影响是复杂的，所得研究规律还很不完善，仍属定性的经验规律。所以分析时应采用与试样组成及***结构尽量一致的标准样品或控制样品。
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