一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:
1.磁性测厚法
适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。
2.涡流测厚法
适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法
目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。
4.电解测厚法
此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要***涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。
5.测厚法
此种仪器价格昂贵,适用于一些特殊场合。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
X射线荧光测厚仪操作注意事项:
测厚仪操作时候需要注意的:
技术指标:
1 分析元素范围:Cl(17)-U(92)
2 同时可分析多达5层镀层以上
3 分析厚度检出限高达0.01μm
4 多次测量重复性高可达0.01μm
5测量时间:5s-300s
6 计数率:0-8000cps
测厚仪操作流程
打开仪器开关----在电脑上开启软件-------开高压钥匙-------联机------预热-----峰位校正------新建程式------选择相应的程式-----测试样品----出报告
江苏一六仪器 选择X荧光光谱镀层检测仪的四个理由:
1、无损检测
镀层工艺的高要求,让楔切法、光截法等传统的***性检测方法越来越不适用,市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法,而X射线荧光光谱法无非是excellent镀层无损检测方法。
2、强化品质管控
X荧光光谱镀层检测仪可以准确检测镀层的金属含量及厚度等数据,这是做好电镀品质管控的前提。
3、提升生产力
传统的检测技术,既耗时又耗人力,而X荧光光谱镀层检测仪可以很大程度上解放劳动力,且检测速度快、精度高,这对提高电镀企业生产力、节约成本有很大帮助,从而带来更多的经济效益。
4、提升市场竞争力
X荧光光谱镀层检测仪不但可以帮助电镀企业提升劳动生产力,也可以帮助电镀企业在行业里保持excellent的竞争优势。