测量触头和圆锥构件的区别
由于随着圆锥角变陡峭而测量触头在圆锥构件的圆锥面上滑动时对滑动面施加的负荷增大，测量触头在圆锥构件上滑动的部分产生的摩擦力大于以往，因此，有可能导致测量触头及圆锥构件的耐久性降低。另外，以往测杆的移动量与传递到测量触头的移动量为相同的比率，但若圆锥构件的圆锥角变大，则测杆的移动量被传递到测量触头时会放大。即，由于以测杆较少的移动量使测量触头移动较大，因此，存在测量精度恶化这样的问题。
IMICRO是世界上遵循阿贝原则的内径千分尺
阿贝原理要求标准长度量（标准线）务必与被测长度量（被测线）共线，从而减少测量的误差。而IMICRO是世界上遵循阿贝原则的内径千分尺，使深孔测量更加稳定可靠。
1.一般我们的内径千分尺测量头采用的是光滑椎体，温度的变化会导致椎体发生形变，使得原来的丝杆螺距与椎体的比例失调进而测量头被动伸缩，精度走失。2.IMICRO系列为基于阿基米德算法制作出的螺纹椎体，其随温度的变化不会影响测爪的运动，从而减少精度误差。
千分尺测力装置用来驱动丝杆
千分尺测力装置用来驱动丝杆，同时保证测量面的测力恒定，获得准确的测量结果。主要有棘轮测力， 棘轮套测力，无声测力，棘轮测力广泛用在个正千分尺上，内层有微分筒，外层有棘轮套，微分筒和棘轮套之间有弹，微分筒上开有小槽，弹的一端弯成小钩，挂在微分筒上的小槽内，另一端依靠其本身的弹性与外层棘轮套内孔的棘轮齿接触，棘轮套正向转动时，弹的自由端与棘轮齿斜面接触，产生恒定的摩擦力，从而带动微分筒转动。当弹和棘轮套的安装方向调转１８０°，即可改变测力方向，本机构结构简单便于批量生产，使用方便，适用于各种测微量具。
内径千分尺零位的快速调整方法
如果测得内径千分尺测微头的零位为负偏差(50—0．02)mm时(见只需逆时针旋转微分筒0．02ram(即放长尺寸)，然后拧紧测杆上的紧固螺钉，再用四方专用扳手旋松微分筒上的内四角螺钉，顺时针转动微分筒，使微分筒上的零刻线对准固定套管上的零刻线。反之，当测得内径千分尺微分头的零位为正偏差(50 0．02)mm时(见图2)，则需顺时针旋转微分筒0．02mm(即缩短尺寸)然后拧紧测杆上的锁紧装置，使测杆固定不转，再旋松微分筒上的内四角螺钉，逆时针转动微分筒，使其零刻线对准固定套管上的零刻线，此时微分头上的锁紧装置便可放松，内径千分尺微分头的零位就这样一次性调整好了。接着便可进行示值检定和接长杆组合尺寸的检定。掌握内径千分尺零位的“快速调整方法”，对于提高检定工作效率，确保测量单位量值准确可靠，起到了事半功倍的效果。
