江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪 为大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析提供解决方案
X射线荧光光谱测厚仪操作流程:
1.打开仪器电源 开关
2.打开测试软件
3.联机
4.打开仪器高压钥匙,光谱膜厚仪,观察软件界面管流值不为0值且正常上升至1000左右
5.待机30分钟
6.打开测试腔放入标准元素片Ag,通过调整移动平台滑轨和焦距旋钮使软件测试画面清晰
7.点击峰位校正图标按照提示进行操作
8.根据已知样品信息新建(或选择)合适的产品程式
9.点击资料图标,根据客户需求调整相关测量参数
10.放置样品:打开测试腔,将样品需要测试的一面大致朝向测试窗,边观察软件测试画面边通过移动平台滑轨微调测试位置进而达到测试要求位置
11.调整焦距:使用仪器左侧焦距调整旋钮,使得软件测试画面尽可能清晰
12.开始测量:点击开始测试图标,进行样品测试或者按动仪器前面板测试按钮进行样品测试
13.数据报告:对测量的数据结果进行对比和分析,判断数据是否正常,若出现异常可进行多次测量排除偶然误差
14.生成报告:点击预览报告可以对测试报告内容和格式进行调整,还可以电子版保存报告和直接打印纸质报告
15.整理反馈:对测试结果进行分析和整理,测厚仪厂家,可通过给出测试报告的形式与客户进行沟通和反馈
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
选择Elite(一六仪器)X射线荧光镀层测厚仪理由:
根据IPC规程,必须使用整块的标准片来校正仪器,对于多镀层的测量,目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正,比如测量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因为测量点很小,测量距离的变化对测量结果有较大影响,如果使用Au,厦门测厚仪,Pd,Ni三种箔片叠加校正,校正的时候箔片之间是有空气,并且Pb元素与空气的频谱重叠,以上会对测量结果产生较大影响,Elite(一六仪器)测厚仪有电镀好的整块的Au/Pd/Ni/Base标准片,不需要几种箔片叠加校正,可以确保镀层测量的准确性。
2、采用微聚焦X射线管,油槽式设计,工作时采用油冷,长期使用时寿命更长。微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率,可以进行测量。
3、Elite(一六仪器)WinFTM专用软件,具有强大且界面友好、中英文切换,多可同时测量23层镀层,光谱测厚仪,24种元素,测量数据可直接以WORD格式或EXCEL格式输出、打印、保存。采用基本参数法(FP),有内置频谱库,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。
4、 Elite(一六仪器)针对PCB(印制电路板)线路板上的镀层厚度及分析而设计的X射线荧光测厚仪(XDLM-PCB200/PCB210系列)具有以下特点:1)工作台有手动和程序控制供客户选择,2)采用开槽式设计和配置加长型样品平台,用于检测大尺寸的线路板。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪可调整测量位置,非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时,可连续自动测定,利用座标补正、连结频道,来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
测定部显示尽像的表示:***照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置,可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。
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