偏光镜检术的方式及要求
偏光镜检术的方式 正相镜检：又称无畸变镜检，其特点是使用低倍物镜，不用伯特兰透镜，同时为使照明孔径变小，推开聚光镜的上透镜。正相镜检用于检查物体的双折射性。 锥光镜检：又称干涉镜检，这种方法用于观察物体的单轴或双轴性。 显微镜的分类和特点 偏光显微镜在装置上的要求 1、光源：采用单色光，因为光的速度，折射率和干涉现像因波长的不同而有差异。 2、目镜：要带有十字线的目镜。 3、聚光镜：为了取得平行偏光，应使用能推出上透镜的摇出式聚光镜。 4、伯特兰透镜：这是把物体所有造成的初级相放大为次级相的辅助透镜。
电子显微镜(scanningprobemicroscope)
现今的电子显微镜和扫描探针显微镜（scanning probe microscope，SPM）具有极高的分辨率，可以“看到”单个原子和化学键，这一尺度范围大概为0.5埃（1埃 为0.1纳米，等于10-10米）。以这种分辨率来观察材料，如石墨烯、催化剂和氧化物等，能够揭示这些材料的结构，以及晶体缺陷对材料性质的影响。
真正理解材料的化学和物理性质
为了真正理解材料的化学和物理性质，我们需要更加地绘制出原子的排列方式。1959年，物理学家理查德· 费曼 （Richard Feynman）在美国物理学会演讲时提到，“在尺度范围来观测材料，有非常多的应用空间”。这里的尺度，费曼将其设定为0.1 埃，当显微镜的分辨率达到0.1 埃后，受原子热振动的限制，显微图像就会到达物理极限。小的结构变形会影响磁性、化合价和自旋态（spin state），而分辨率达到极限后，结构变形就会变得明显。
SPM像扫描隧道显微技术
SPM像扫描隧道显微技术（scanning tunnelling microscopy）一样，通过测量两者之间的电流，或者像原子力显微镜一样，通过测量两者间微小的作用力，来获取表面的结构图像。探针与材料表面的相互作用要受到基础物理学定律的约束，这会限制SPM可达到的分辨率，尽管如此，新型低噪声设备对表面原子的位移和键长变化的测量数值，误差要小于10皮米（pm，1pm=10-12m）。
