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X射线荧光光谱仪是基于X射线荧光光谱法而进行分析的一种常见分析仪器。通常认为X***区域0.01-10nm之间的一段电磁波谱,短波边以伽马射线为界,长波边与真空紫外线区域的实际界线。
X射线荧光光谱仪特点
1、一种真正意义上 的无损分析,在分过程中不会改变样品的化学形态。具有不污染、节能低耗等优点。
2、分析速度快,无须进行样品预处理,升值无须样品的制备,X射线荧光光谱分析可以筛选大量的样品。一般情况下检测在3分钟以下。
3、自动化程度高。
4、可以同时测定样品中的多种元素。
5、随着分析技术的发展,仪器可以满足很多行业的需求。如:地质矿产,冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、镀层等诸多行业。
6、样品的形态广。
7、X射线荧光光谱仪分为波长色散谱仪和能量色散谱仪可以满足各行个元素的需求。
8、X射线荧光光谱仪中的能量色散仪是低分辨率光谱仪已是在线分析的选择仪器之一。






X-RAY测厚仪特点
1,价格高,机种不同,价格在10万~100万左右,可测试P(磷)~U(铀),并且支持Rohs及元素分析功能等。
2,无损检测,Windows操作系统,使用简便。操作快速,能适应多类镀层,大量检测,但体积较大,计算机除外约100000cm2,50000g左右。
3,测量厚度范围较广,
0.002um~100um左右,能测试5层以上膜厚,并且可以测量合金镀层,也可分析镀层元素和含量比。
4,测量精度高,1%左右,分辨率高,0.001um左右。
5,测头的面积较小,对需测的样品要求不高:0.1mmψ以下也可测量,基材厚度无要求。
6,可编程XYZ测量台及大移动范围。
江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪 X射线的产生
X射线波长略大于0.5纳米的被称作软X射线。波长短于0.1纳米的叫做硬X射线。
产生X射线的***简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中,电子突然减速,其损失的动能(其中的1%)会以光子形式放出,菲希尔膜厚仪,形成***光谱的连续部分,称之为制动辐射。通过加大加速电压,电子携带的能量增大,则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴,外层电子跃迁回内层填补空穴,同时放出波长在0.1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量是量子化的,所以放出的光子的波长也集中在某些部分,形成了***谱中的特征线,此称为特性辐射。
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