一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集,***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005umxiao测量面积0.002m㎡ 深凹槽20mm以上
镀层厚度分析仪使用注意事项
1.仪器供电电压必须与仪器铭牌上的电压一致。仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上。
2.镀层厚度分析仪为精密仪器,建议配备的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源(UPS)。
3.镀层厚度分析仪应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。
4.仪器适合在10~40℃(50~104℉)的环境温度下操作使用,在0~50℃(32~122℉)的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在0~65%之间(非冷凝)。在操作过程中,环境温度和湿度应保持恒定。
5.仪器曝晒在阳光下时温度极易超过50℃。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器,以避免高温对仪器造成损害。
6.为避免短路,严禁仪器与液体直接接触。如果液体进入仪器,请立刻关闭仪器并在重新使用前请技术人员整体检查仪器。
7.镀层厚度分析仪不能用于酸性环境和场合。
8.不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片,否则会造成读数错误。
9.不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物。如果必要的话,可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
目前,金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析(GD-OES)和X射线荧光光谱仪等。波长色散型是由色散元件将不同波长的特征X射线衍射到不同的角度上,探测器需移动到想要的位置上来探测某一波长能量的射线。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层,逐层溶解并进行测定,方法准确但费时费力,尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂,价格又贵,属于典型***性样品检测,测量手段手段繁琐,速度慢,电解液耗损大,目前一般很少应用。GD-OES方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层,再用发射光谱测定,这种方法可实现剖面或逐层分析,但测量重复性并不理想。
江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪 元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)
厚度分析范围:各种元素及有机物
x射线荧光镀层测厚仪(国产)是一款针对金属电镀层(镀金、镀镍、镀锌、镀锡等)厚度的,通过X荧光照射出产品,每个元素反射出的二次特征谱线,通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度,完全达到无损、快速分析的效果,产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业(铝平行管、电镀五金),连接器企业、开关企业等。生成报告:点击预览报告可以对测试报告内容和格式进行调整,还可以电子版保存报告和直接打印纸质报告15。
x射线荧光镀层测厚仪性能优势
采用高度***激光,可自动***测试高度
***激光确定***光斑,确保测试点与光斑对齐
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏***传感器保护
minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可***测试点,重复***精度小于0.005mm
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数
一次可同时分析多达五层镀层
度适应范围为15℃至30℃
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
分析含量一般为2ppm到99.9%