20阶OECF灰阶卡
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产品特点：
此卡遵照ISO 14524:OECF测试标准，包括20级环形灰阶。有反射式和透射式可供选择。
透射式：
-尺寸:13.5cm*24cm（16：9）
-对比度：1000000：1，10000：1，1000：1 可选
-配件包含出厂密度文件
反射式：
-尺寸：1x 20cm*35.6cm(16: 9) ;2x 40cm*71.1cm(16: 9)
-对比度：160：1，80：1，40：1可选
分辨率测试卡(斜边ISO 12233:2014)简介
分辨率测试卡TE275设计用于使用斜边测量静态相机的分辨率。
在TE268和TE253（正弦西门子星）和TE252（分辨率的视觉评估）旁边，斜边是ISO 12233标准中描述的用于分辨率测量的第三种模式。
分辨率测试卡TE275包含九个斜边结构，每个具有两个垂直和两个水平边缘，并且在中心具有聚焦辅助。倾斜边缘结构倾斜5°，并具有ISO 12233：2014要求的低对比度（调制在0.55和0.65之间）。背景根据ISO12233：2014提供0.15和0.25之间渐变。注意：应使用经过校正的显示器，并且ColorChecker色卡应置于可控制照明条件的标准光源下。
斜边以一种方式布置，以在轴向信息上递送50％场位置（4:3纵横比）和70％场位置处的信息。
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ISO12233:2014 eSFR分辨率测试卡简介
SineImage eSFR分辨率测试卡配合软件可以自动计算几个关键图像质量因素包括锐度、横向色差、阶调反应、色彩反应及噪点。
与低反差 Edge SFR 规格完全相容，新的标准为 ISO 12233:2014取代了2000标准，因为之前使用高反差测试图容易引起出界或量度误差，也缺少渐进组别评定系统的阶调反应，并且只有少量功能适用于自动分析。
SineImage eSFR分辨率测试卡的设计基于ISO 12233:2014 定义的低反差edge SFR规格。
测试卡有以下三种版本：
标准版：基础的功能
增强版：增加了额外的正方形、楔形和色彩图案
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分辨率测试卡
分辨率测试卡，也叫JIMA卡，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
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