




三维形貌测量系统
可用于物体表面三维形貌和变形测量。由于该系统既可配备10倍变焦远距离显微成像镜头,也可配备普通变焦镜头,使得该系统能同时满足细观及宏观的测量要求。不仅可用于微电子、生物、微机械等微细结构的形貌及变形测量,也可用于混凝土结构、岩土试样等大型构件表面形貌和变形测量。系统配有专用的相移条纹图像处理软件,使得系统测量精度明显提高,并且使用方便、操作简单。
三维形貌测量仪对于样品表面特性研究案例
材料科学的目标是研究材料表面结构对于其表面特性的影响。因此,高分辨率分析表面形貌对确定表面粗糙度、反光特性、摩擦学性能及表面质量等相关参数具有重要意义。
符合国际标准的NanoFocus测量系统适用于各种不同材料的测量需求,满足满足规格要求并使工艺流程优化,这意味着在缩短开发时间的同时降低成本。
便携式光学三维表面形貌测量仪测量大件样品的优势
携式光学三维表面形貌测量系统是专门针对轧辊、车身等大型物体的测量而开发的,重量仅有5.5公斤。该表面测量系统可携带到现场并且在几分钟内即可准备完毕投入使用。由于集成自动对焦功能,其也可以胜任沿轧辊径向的大范围测量。
应用于产线的便携式三维测量技术
基于稳定的NanoFocus技术,便携式三维测量系统即使在恶劣的生产环境下也可以使用。MarSurf CM mobile测量速度很快,典型三维测量时间只需5-10秒。由于这些特点,该系统非常适用于部署在整个产业链。
配置和选项

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影像测量仪的误差来源有哪些呢? (1)光栅尺记数的偏差; (2)操作台挪动时存有的平行度、角摆产生的偏差; (3)操作台两精l确测量轴平整度带的偏差; (4)摄像镜头直线光轴与操作台不垂直带的偏差; (5)精l确测量工作温度转变产生的偏差; (6)灯源照明灯具标准的转变产生的自动对焦和指向偏差。