X射线荧光镀层测厚仪
一六仪器快速精准分析膜厚仪稳定的多道脉冲分析采集系统,***的解谱方法，解决各种大小多层多元素的涂镀层厚度分析
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件.
测厚仪分类：
1.超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的，但在同一介质中声速是一常数。超声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射，测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间，即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用广的就是这类测厚仪。3、测厚仪原理--超声波测厚仪超声波测厚仪：这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲会发生反射而返回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间，来计算被测材料的厚度。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度，也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的，体积与小型半导体收音机相近，厚度值的显示多是数字式的。对于钢材，大测定厚度达2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之间。
2.磁性测厚仪在测定各种导磁材料的磁阻时，测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而发生变化。利用这种变化即可测知覆盖层厚度值。常用于测定铁磁金属表面上的喷铝层、塑料层、电镀层、磷化层、油漆层等的厚度。
一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪
一六仪器研发生产的X荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,专利独特聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例
性能优势：
下照式设计：可以快速方便地***对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
率的jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
EFP***算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
涂层测厚仪操作规程有哪些
我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至严重的可能会对自身产生威胁，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：
三、操作步骤
4. 判断是否需要校准仪器。如果需要，选择适当的校准方法进行校 准；
5. 测量。将测头垂直接触工件的测量面，并轻压测头的加载套，当 测头与被测工件表面接触稳定后，随着一声蜂鸣声，屏幕将显示标识和测量值。如果测量标识闪烁或无测量标识则表示测头不稳定.移开测头后，测量标识消失，厚度值保持。
6. 仪器关机
X射线荧光的基本原理
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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。a参与X射线仪表安装与调试人员，事先须经医师的***体检，合格后方能上岗施工。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。
当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。
