Surfix BN膜厚仪特点：适合有色金属材上的膜厚测量，分体式世界最新科技，手机外形，最小测面积菜单操作，分辨率0.1µm，两类基体自动识别量程：0-1500µm，0-60mils，90°直角探头九种规格，统计值在线显示德国PHYNIX公司制造。
Surfix BN膜厚仪技术参数：
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测量范围 |
0-1500µm,0 - 60mils |
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误差 |
1µm或1%读数 |
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分辨率 |
0.1µm或<测量读值的2% |
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显示 |
背景照明，四位读数显示，两行统计数字显示，英文操作指南 |
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基体最小面积 |
5mmX5mm |
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基体最小曲率 |
凸面：1.5mm 凹面：5mm |
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基体最小厚度 |
F型：0.2mm ,N型： 50µm |
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校准 |
厂家校准，零校准，校准箔校准 |
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数据统计（仅限统计型） |
读数个数（最多9999个），平均值，标准偏差，最大值和最小值 |
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数据存储（仅限统计型） |
最多200个测量数值,可单独调出 |
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数据值（仅限统计型） |
上下限可调,声音报警 |
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数据接口 |
红外通讯,IrDA标准 |
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环境温度/表面温度 |
0-50℃/150℃ |
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电源 |
2节1.5伏AA碱性干电池 |
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仪器尺寸 |
137x66x23 |
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符合标准 |
DIN，ISO，ASTM，BS |