三维形貌测量系统
可用于物体表面三维形貌和变形测量。由于该系统既可配备10倍变焦远距离显微成像镜头，也可配备普通变焦镜头，使得该系统能同时满足细观及宏观的测量要求。不仅可用于微电子、生物、微机械等微细结构的形貌及变形测量，也可用于混凝土结构、岩土试样等大型构件表面形貌和变形测量。系统配有专用的相移条纹图像处理软件，使得系统测量精度明显提高，并且使用方便、操作简单。
2.5次元影像测量仪与二次元影像仪的区别有哪些呢？
2.5次元测量仪，是指在二次元的基础上，以光学影像测量可测高度及深度，或者在镜头上加个测针，用光学镜头测量平面尺寸、用测针进行接触式测量可测深度，达到3维测量的效果，但此3维测量仅是简易的3D测量，未能真正地实现3维全部空间尺寸的测量，因此被称为2.5次元。
适用于各种材料的非接触式三维表面分析NanoFocus测量系统能够快速、有效地对几乎所有材料——从金属、玻璃、陶瓷、半导体、聚合物到有机材料——进行三维表面分析。共焦技术能够测量各种表面反射特性的材料并获得有效的测量数据。采用NanoFocus技术的μsurf、μscan和μsprint能够在生产和加工的不同阶段对敏感表面进行无损测量，透明涂层表面和层厚也可以同时测量。
无需样品制备即可在几秒钟内获取真正的3D数据，进而对表面进行定性和定量的评估。NanoFocus为测量数据的分析提供了强大的综合软件解决方案以便确定相关参数。
全自动影像测量仪的使用环境：
温度环境温度尽量保持在20℃±1℃。请不要在偏高或偏低温度下调整机器精度。否则，无法确保l本测量仪在20℃时的精度
湿度湿度对测量精度没有直接的不利影响。然而，高湿度会使机械表面生锈，阻碍平滑的轴向移动。因此建议环境湿度保持在30%至80%之间。
光照影像测量仪不能放置在强光、或太阳直射的光照环境下，否则将会极大影响测量仪的测量精度。
