一六仪器 X-RAY测厚仪研发生产厂家,欢迎来电咨询!
测厚仪,多薄多复杂组合的镀层分析,一六仪器研发生产的仪器都能满足您的使用!
一六仪器提供的测厚仪可测试面积0.002mm?和80mm深槽的样品
测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪
应用领域：
钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeAIB
汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测
卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZu(ABS)电镀液的金属阳离子检测
如何选择测厚仪的测点位置
如何选择测厚仪的测点位置？我们想要使用测厚仪测量物品厚度，前提是有测点位置，相当于我们的需要选择一个固定点为零值一样，如此才能够测量出具体厚度。
应用在建筑行业中,近年来也是很广泛的,包括许多关于涂层的厚度检测环节都要用到的.在工程施工中,测厚仪用来检测控制钢结构防 火涂料的涂刷厚度.
X射线荧光的基本原理
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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。发射端用大概20KV,30W这样的X射线高压电源，接收端用500V,1mA高压模块。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。
当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
