X-RAY测厚仪特点
1，价格高，机种不同，价格在10万~100万左右，可测试P（磷）~U（铀），并且支持Rohs及元素分析功能等。
2，无损检测，Windows操作系统，使用简便。操作快速，能适应多类镀层，大量检测，但体积较大，计算机除外约100000cm2，50000g左右。
3，测量厚度范围较广，
0.002um~100um左右，能测试5层以上膜厚，光谱分析仪，并且可以测量合金镀层，也可分析镀层元素和含量比。
4，测量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。
5，测头的面积较小，对需测的样品要求不高：0.1mmψ以下也可测量，基材厚度无要求。
6，可编程XYZ测量台及大移动范围。
江苏一六仪器 X荧光镀层测厚仪 一六仪器、一liu品质!各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎咨询联系！
1X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV，0-1.0mA)-标准75W(4-50kV，0-1.5mA)-任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸
2滤光片程控交换系统根据靶材，荧光测厚仪，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统二次X射线滤光片:3个位置程控交换，测厚仪，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口
3准直器程控交换系统多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制多种规格尺寸准直器任选:-圆形，如4、6、8、12、20mil等-矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，镀层膜厚仪，测量斑点尺寸小至为:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm准直器)在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸大至为:0.38x0.42mm(使用0.3mm准直器)
5X射线探测系统封气正比计数器装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6样品室CMI900CMI950-样品室结构开槽式样品室开闭式样品室-样品台尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY轴程控移动范围标准:152.4x177.8mm任选:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z轴程控移动高度43.18mmXYZ程控时，152.4mmXY轴手动时，269.2mm-XYZ三轴控制方式多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
江苏一六仪器 X射线荧光光谱仪XTU/X-RAY系列
技术参数
X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管
准直器φ 0.05 mm ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 准直器任意选择或者任意切换
近测距光斑扩散度：9%
测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察：1/2.5彩色CCD，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦
放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍
随机标准片：十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件：联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱
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