一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪
仪器规格：
外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）
样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）
仪器重量 ：55kg
供电电源 ：交流220±5V
da功率 ：330W
环境温度：15℃-30℃
环境相对湿度：lt;70%
X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些
第四,在生产过程中,补偿值也会对X射线测厚仪的测量精度造成影响。我们利用测厚仪测量是,会事先给测厚仪输入一个补偿值,让测量值与实际值相等。激光测厚仪的技术指标介绍激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。在这个过程中,操作者首先对板材进行测量,但是操作者使用量尺的方式不同,就会造成补偿值的大小不等,会形***为的误差。只有在进行测量时,操作者认真操作,减少补偿值得测算误差,使补偿值接近真实值,提高X射线测厚仪的测量精度。
一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪
性能优势：
下照式设计：可以快速方便地***对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
率的jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
精密微型滑轨：快速精准***样品。
EFP***算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
测厚仪和膜厚仪一样吗
测厚仪的原理：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
膜厚仪：属于测厚仪的一种，膜厚仪测量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂层测厚仪，为磁阻法和电涡流原理，台式的不同原理也有好多种，电感原理等。
X射线荧光的基本原理
一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证
江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！
当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。测厚仪是我们工厂中经常会使用到的一种在线测量设备，主要是为了能够达到产品厚度的合格，减少出现废品及客户退货等情况的出现。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。
X射线的激发
如果要得到某元素的特征X射线，需要对元素原子内层电子进行激发，使得内层电子获得一定能量，能够脱离原子核的束缚，从而在内层轨道形成电子空穴，当较高能级电子填补这一空穴时，才会发射一定能量的特征X射线，这个过程就是X射线的激发。
