一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
选择Elite(一六仪器)X射线荧光镀层测厚仪理由:
根据IPC规程,菏泽测厚仪,必须使用整块的标准片来校正仪器,对于多镀层的测量,目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正,比如测量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因为测量点很小,测量距离的变化对测量结果有较大影响,如果使用Au,Pd,Ni三种箔片叠加校正,校正的时候箔片之间是有空气,并且Pb元素与空气的频谱重叠,以上会对测量结果产生较大影响,Elite(一六仪器)测厚仪有电镀好的整块的Au/Pd/Ni/Base标准片,不需要几种箔片叠加校正,可以确保镀层测量的准确性。
2、采用微聚焦X射线管,油槽式设计,工作时采用油冷,长期使用时寿命更长。微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率,可以进行测量。
3、Elite(一六仪器)WinFTM专用软件,具有强大且界面友好、中英文切换,多可同时测量23层镀层,24种元素,测量数据可直接以WORD格式或EXCEL格式输出、打印、保存。采用基本参数法(FP),有内置频谱库,光谱膜厚仪,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。
4、 Elite(一六仪器)针对PCB(印制电路板)线路板上的镀层厚度及分析而设计的X射线荧光测厚仪(XDLM-PCB200/PCB210系列)具有以下特点:1)工作台有手动和程序控制供客户选择,2)采用开槽式设计和配置加长型样品平台,用于检测大尺寸的线路板。
一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集,***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
***方式:
1、移动平台:
A、手动(普通和带精密滑轨移动):装配设计不同精准移位从0.5mm-0.005mm不等,移动的灵动性差距也很大。
B、电动(自动):装配设计不同精准移位从0.2mm-0.002mm不等
但同样的手动或者自动,其***精准也相差很多。
2、高度***:
A、手动变焦和无变焦
B、激光对焦和CCD识别对焦
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。
波长色散型X射线荧光光谱仪的前面部分和能量色散型X射线荧光光谱仪是一样的,***管激发样品,检测器测量来自样品的射线,涂层测厚仪,但波长色散型X射线荧光光谱仪的检测器和能量色散型X射线荧光光谱仪的检测器不同。波长色散型X射线荧光光谱仪的计策系统由一套准直器,衍射晶体和探测器组成,来自样品的特征谱线照射到镜头上,晶体将不同波长(能量)的谱线衍射到不同的方向,(相当于棱镜将复合光分解成不同的单色光),将检测器放置在一定的角度,就可测量某一波长的谱线强度。将分光晶体和探测器装在测角仪上,镀层测厚仪,使它在一定角度范围内转动,一次测量不同波长长谱线的强度,使用这种形式的光谱仪称为顺序扫描式光谱仪。安装固定检测系统的称为同时式光谱仪,每一套检测系统都有自己的晶体和探测器,分别测量某一特定元素的谱线,各谱线的强度同时被测量,这就很容易理解为什么称它为固定道波长色散型光谱仪,另外也有固定式和转动式结合的仪器。X射线波长色散型光谱仪一般有光源(X-射线管)、样品室
分光晶体和检测系统等组成。
江苏一六仪器(图)-涂层测厚仪-菏泽测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司在专用仪器仪表这一领域倾注了诸多的热忱和热情,一六仪器一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场,衷心希望能与社会各界合作,共创成功,共创辉煌。相关业务欢迎垂询,联系人:邓女士。