





能量色散X射线荧光光谱仪技术原理
江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统,专利独特聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例
能量色散X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。
它由高压发生器和***管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。
能量色散X射线荧光光谱仪技术原理
能量色散X射线荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射,凡间是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射线荧光光谱仪与物质的互相效果首要有荧光、接收和散射三种。
能量色散X射线荧光光谱仪是由物质中的构成元素发生的特征辐射,经过侧里和剖析样品发生的x射线荧光,即可获知样品中的元家构成,获得物质成分的定性和定量信息。
江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪
应用领域:
线路板、引线框架及电子元器件接插件检测
镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析
手表、精密仪表制造行业
钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeAIB
汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测
江苏一六仪器以“竭尽全力创造客户认可的有价值的产品和服务”为使命,持续进行产品与服务创新。
继续秉承“专注测厚仪,一六仪器,一 liu 品质”的原则,坚持自主创新、合作共赢。
一家值得信赖、受人尊敬的公司。
一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证
江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析,欢迎来电咨询!
测厚仪分类:1.X射线测厚仪 2.纸张测厚仪 3.薄膜测厚仪 4.涂层测厚仪 5.在线测厚仪 6.超声测厚仪 7.压力测厚仪 8.白光干涉测厚仪 9.电解式测厚仪 10.机械接触式测厚仪
X射线测厚仪:利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。3、测厚仪原理--超声波测厚仪超声波测厚仪:这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲会发生反射而返回探头,通过准确测量超声波在材料中传播的时间,来计算被测材料的厚度。 主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.