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科美仪器（昆山）研发有限公司

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1996年以来，科美在半导体，平板显示器，电子物质，PCB,生命科学和化学分析上，研发和提供了独特的，先进的解决方案。科美，作为测量和分析技术市场上的领头和动力，从它创立以来，已经取得了非凡的发展，并以它突出的表现得到了世界范围的认可。科美一直设法关注客户的需求。我们不仅仅为我们的客户提供最好的产品......

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OSP镀层测厚仪

产品编号：2023982 更新时间：2020-08-13

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科美仪器（昆山）研发有限公司

主营业务：薄膜测厚仪、OSP薄膜测厚仪、微型紫外可见分光仪
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产品详情

ST4080-OSP

· 分析PCB/PWB 上的OSP涂层厚度

ST4080-OSP（有机可焊性保护膜）专用于测量PCB/PWB上铜铂厚度。它属于使用分光反射法的非***性光学测量仪，它可提供平均厚度和详细的3D平面轮廓资料，使得实时检测无需任何的样品制备。
  由于ST4080-OSP具有测量很小面积与自动聚焦功能，适用于PCB基板表面的实模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度测量技术，而它在半导体，平板显示与其他电子材料行业方面的可靠性得到了证实。

  为什么要选择 ST4080-OSP?

  ST4080-OSP使用反射测量法提供PCB/PWB表面OSP涂层厚度的非接触和非***性实时测量。
  ST4080-OSP 无需样品制备，可确保快速和简便操作。
ST4080-OSP测量的光斑尺寸可减小到0.135，这使得它可测量表面粗糙的铜的OSP涂层厚度.
  ST4080-OSP 与紫外可见分光计，受迫离子束方法，时序电化学还原分析还有其他的测量方法相比较，它基于更可靠的测量技术。
  ST4080-OSP 可获取420nm~640nm范围内的多波长光谱。
  ST4080-OSP可提供各点和它们的平均厚度的详细数据，这样可帮助人们更好地控制OSP质量。
  ST4080-OSP 通过3D表面形态学将测量程序***优化。

在电路行业，有机可焊性保护膜（OSP）涂层的使用对保护铜表面防止氧化是必需的。
关于RoHS指令，该保护膜涂层要求无铅适用，易加工和低成本。它的标准厚度测量范围是0.1~0.5μm。
ST4080-OSP 通过分析基板上薄膜表面的反射光和基板表面的反射光之间的光谱干涉来测量薄膜厚度。ST4080-OSP 同时测量多个光斑，并以轮廓形式显示厚度测量结果。
ST4080-OSP有两种光学透镜。用户可使用5倍的光学透镜方便地进入详细模式的***区域，再通过使用50倍的光学透镜获取详细厚度轮廓。

波长范围	420nm ~ 640nm
厚度测量范围	350 ~ 3
***小光斑尺寸	1.35, 0.135
目标面积	864X648 / 86.4X64.8
物镜转动架	5X(spot size 20), 50X(spot size 0.2)
测量层	1
固定样台面积	270mm(L) X 240mm(D)
Z轴再现性	&plu***n; 1
自动Z装置	Z direction Head Movement Tr***el range: 50mm Max. velocity: 50mm/s
特征	Non-destructive OSP thickness measurement No sample preparation for fast and easy operation *ailable to detect OSP coating on Cu with rough surface conditi* Auto-focusing function 3D contours results