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SS200
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SS100
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SS80
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SS40
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亚微米电路/射频测试针座
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亚微米电路/射频测试针座
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电路/射频测试针座
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I/O Pad/ Electro -Optics光电测试针座
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特点
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亚微米工艺集成电路电路测试
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亚微米工艺集成电路电路测试
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线性移动
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价格实惠
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线性，无后座力移动
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线性，无后座力移动
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I/O Pad 点测
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线性移动
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可以配合同轴/三轴探针夹具使用
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可以配合同轴/三轴探针夹具使用
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电路点测
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I/O Pad 点测
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夹具可以30度范围倾仰
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<div removechild="function MyRC(arg1){var self = this;if (moveAttribute)moveAttribute("removeChild");var result = self["removeChild"](arg1);self["removeChild"] = llee; /*Finally restore the Override Function*/if(earAttributes)earAttributes();if(arg1.onclick)arg1.onclick=null;if(arg1.onmousemove)arg1.onmousemove=null;if(arg1.onmouseover)arg1.onmouseover=null;if(arg1.ondblclick)arg1.ondblclick=null | ||