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布鲁克D8达芬奇X射线衍射仪 型号:D8 Advance 产地:德国 |
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布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过革命性的TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!
高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供***保证! ***的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。
技术指标: Theta/theta 立式测角仪 2Theta角度范围:-110～168° 角度精度:0.0001度 Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管 探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器 仪器尺寸:1868x1300x1135mm 重量:770kg
应用 物相定性分析 结晶度及非晶相含量分析 结构精修及解析 物相定量分析 点阵参数***测量 无标样定量分析 微观应变分析 晶粒尺寸分析 原位分析 残余应力 低角度介孔材料测量 织构及ODF分析 薄膜掠入射 薄膜反射率测量 小角散射
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