镀层测厚仪厂家-测厚仪品牌-测厚仪

在我们的售前服务工作中，客户通常都会拿一些在其它机构或者仪器测量过的样品来与我们仪器进行测试结果对比，镀层测厚仪厂家，在确认双方仪器都是正常的情况下，会存在或多或少的差异，那么我们务必要把这个差异的来源分析给客户，镀银测厚仪，我们在分析之前首先要给客户解说测试的基本原理，告知此仪器为对比分析测试仪器，然后再谈误差来源，主要来源：

1、标样：对比分析仪器是要求有越接近于需测试样品的标样，测厚仪，测试结果越接近实际厚度。确认双方有没有在标定和校正时使用标样？使用的是多少厚度的标样？

2、样品材料的详细信息：如Ni/Cu的样品，如果一家是按化学Ni测试，一家是按纯Ni测试；Au/Ni/Cu/PCB样品，一款仪器受Br干扰，一款仪器排除了Br干扰。

3、测量位置、面积：确定在同一样品上测试的是否同一位置，因为样品在电镀时因电位差不同，各部位厚度是有差异的；确认两款仪器测量面积的大小有多少差异。

4、样品形状：测量的样品是否是两款仪器都可测量，或者放置位置是否合适，如突出面有无挡住设备接收。

江苏一六仪器有限公司 X荧光涂镀层测厚仪测试原理

同样，L层电子被逐出可以产生L系辐射。如果入射的X 射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量ΔE释放出来，且ΔE=EK-EL，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Kα 射线，同样还可以产生Kβ射线 ，L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下: λ=K(Z-s)-2 这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此，只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类，xrf测厚仪，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

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应用领域：广泛应用于线路板、引线框架及电子元器件接插件检测、镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析、手表、精密仪表制造行业、

钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测、卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)、电镀液的金属阳离子检测。