| Fluke Ti 20 热成像仪 技术指标 | ||
| 热参数 | 探测器类型： | 硅探测器，非制冷焦平面 |
| 准确度： | &plu***n;2% 或 &plu***n;2?C（取大者） | |
| 准确度（-10 至 0 C）： | +/- 3?C | |
| 重复性： | &plu***n;1% 或 &plu***n;1?C（取大者） | |
| NETD： | 200 mK | |
| 温度显示分辨率： | 0.1 ?C | |
| 光学/红外 | 光谱范围： | 7.5-14 微米 |
| 目标瞄准： | 单波长激光点（符合 lEC 2 类及 FDA II 类要求） | |
| 光学分辨率： | 75:01:00 | |
| 测量圆点***小直径： | 8.1 mm（距离为 61cm 时） | |
| 视场 （FOV）： | 20? 水平 x 15? 垂直 | |
| 控制 | 焦点： | 可聚焦，15 cm 至无穷远 |
| 温标： | 可选择 ?C | |
| 色板： | ***、反***、蓝红、铁红、彩虹、热金属、高对比度、蓝红、经色、琥珀色 | |
| 测量模式： | 可选择自动或手动 | |
| 激光开/关： | 随附 | |
| 增益控制： | 随附 | |
| 级别控制： | 随附 | |
| LCD 背光： | 可选择亮或暗 | |
| 操作 | 可调辐射系数： | 0.10 至 1.00，步长 0.01 |
| 液晶显示： | TFT 技术，适于室内及室外使用，70.5 mm x 53.5 mm | |
| 反射背景温度： | -50 至 905?C | |
| 操作环境温度： | -10 至 50?C | |
| 相对湿度： | 10 至 90% 不结露 | |
| 存放温度： | -25 至 70?C [不带电池] | |
| 存储能力： | 100 张图像 | |
| 激光开启图标： | 随附 | |
| 电池电量不足图标： | 随附 | |
| 测量模式图标： | 随附 | |
| 热分析软件： | InsideIR（随附） | |
| PC 软件操作系统： | Microsoft? Windows 2000? 或 Windows XP? | |
| 电气 | 电源： | 充电电池组（随附） |
| 电池寿命： | 至少连续使用 3 小时 | |
| 数据传输： | USB 接口，50 幅图像的总传输时间仅为 25 秒 | |
| 存储设备： | 快速存储器 | |
| 其它 | 三脚架（6.35 mm （1/4） 20 统一标准螺纹） | |
| 重量（包括电池）： | 1.2 kg | |
| 保修： | 1 年 | |
| 产地： | 美国 | |
| 撞击防护： | 半正弦波，11 ms，30 g 峰值，符合 mil-prf-28800f | |
| 振动防护： | ||
| - 随机 | 6G | |
| EMC： | EN 61326-1 | |