膜厚仪-光谱膜厚仪-镀层膜厚仪

江苏一六仪器 ***涂镀层检测 PCB板材 线路板大板件类X荧光光谱膜厚仪

膜厚仪电涡流测量原理

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，涂层膜厚仪价格，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，荧光膜厚仪，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，膜厚仪，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。

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如果膜厚测试仪已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内；根据统计学的观点，镀层膜厚仪，一次读数是不可靠的。因此任何由膜厚测试仪显示的测量值都是五次“看不见”的测量的平均值。这五次测量是在几分之一秒的时间内由探头和仪器完成的。

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影响膜厚仪测量的的客观因素

声速选择错误。测量工件前，根据材料种类预置其声速或根据标准块反测出声速。当用一种材料校正膜厚仪后（常用试块为钢）又去测量另一种材料时，将产生错误的结果。要求在测量前一定要正确识别材料，选择合适声速。