薄膜摩擦系数测定仪
PARAM 博每 MXD-02 摩擦系数仪
MXD-02 薄膜摩擦系数测定仪执行GB 10006（塑料薄膜和薄片摩擦系数测定方法）、ASTM D1894（塑料薄膜及薄板的静态和动态摩擦系数的标准试验方法）、ISO 8295（塑料.薄膜和薄板.摩擦系数的测定）等相关标准，适用于测量塑料薄膜和薄片、纸张等材料滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数。摩擦系数仪通过测量材料的滑爽性，可以控制调节包装袋的开口性、包装机的包装速度等生产质量工艺指标，满足产品使用要求，可用于食品包装QS认证用***仪器。
薄膜摩擦系数测定仪技术指标
负荷量程：0 ~ 5 N
精 度：0.5级
行 程：70 mm、150 mm
滑块质量：200g（标准）注：其他质量滑块可定制，系统支持任意滑块质量试验。
试验速度：100 mm/min、150mm/min注：其他速度可调整。
了解薄膜摩擦系数测定仪详细信息,敬请致电020-81093743，136-3145-8295，gz02@,本信息由济南兰光广州代表处 ： 孔健（女士）发布。