YN-DX-320L是一款能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF)；其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF***技术，核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有***第三方检查机构报告；YN-DX-320L精密度、准确度、检出限等技术参数***超越国内外同类仪器。
仪器特点：
外形特点：
仪器结构采用***工程学设计，仪器两侧按***手臂长度设计，方便移动、搬运。
上盖倾斜6度角，寓意对客户的尊重。
样品盖采用铅玻璃防辐射技术，在保证操作人员安全的前提下，方便观察样品；
表面采用***汽车喷漆工艺，采用宝蓝、雅致白搭配，蓝色代表科技，白色代表圣洁，寓意对科学的敬仰。
辐射防护：
样品盖镶嵌铅板、铅玻璃屏蔽X射线。
辐射标志警示。
迷宫式结构，防止射线泄漏。
安全连锁设计；测试过程中误打开样品盖时，电路0.1μS快速切断X射线。
仪器经***第三方检测，X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。
硬件技术：
超短光路设计：提高无卤检测分辨率，提高样品分析效率，降低光管功率，延长仪器使用寿命。
模块化准直器，根据分析元素，配备不同材质准直器，从而降低准直器对分析元素的影响，提高元素分辨率。
空气动力学设计，加速光管冷却，有效降低仪器内部温度；静音设计。
电路系统符合EMC、FCC测试标准。
快拆卸样品台，换薄膜更方便。
软件技术：
分析元素：Na~U之间元素。
分析时间：60~200秒。
配置RoHS检测分析模型、无卤分析模型和镀层厚度分析模型。
软件界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作。
YN ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份，一键还原功能，保护用户数据安全。
YN ED Workstation V3.0根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度。
YN ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能，客户建立自己的工作模型。