CMS电解多镀层测厚仪

COULOSCOPE CMS电解多镀层测厚仪

COULOSCOPE® CMS（库仑测量系统）使用库仑方法测量镀层厚度。新的设计中配备了一个大的，易读取的液晶显示器，直观的菜单指引系统，新的可以通过泵控制自动注液和清空测量槽的V18测量台，以及SPC统计能力。该仪器理想的适用于测量几乎所有的金属基材或非金属基材上的金属镀层的厚度，包括多镀层。使用在不能进行或不需要进行非***性测试方法的场合。

COULOSCOPE® CMS***地测量范围在0.05 - 40 µm (0.002 - 1.6 mils)之间的金属镀层。该设备可以存储上百条预先定义好的镀层/基材应用，从单镀层，例如锌在钢上，直至三镀层，例如铬层在镍层再在铜层或塑料上。存储容量允许记录和保存上千条的测量结果。可以通过RS232接口将存储的数据打印或输出到PC电脑上。

***新

COULOSCOPE® CMS STEP 双层镍镀层测量版本

4种不同类型的测量台适合于测量各种种类的被测物体。

左上角图片：测量台V18有1个新的测量槽设计。由于在每次测量后有一个泵会自动地排出电解液至储液箱内，也就不再需要手动清空测量槽了，一次注满测量槽就可以多次测量。

右上角图片：测量台V24允许灵活***小工件。

左下角图片：测量台V26主要为简单和平面形状的物体而设计。

右下角图片：测量台V27主要为在线材上测量而设计。

特性

吸引人的设计，大的液晶显示器和清晰安排的键盘。

操作简单，菜单指引的操作提示。

电解区域直径从0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。

大约100个预先定义好的应用程式适用于大多数的金属镀层，包括测量线材。

COULOSCOPE® CMS STEP

在电镀行业中，对多层镍镀层中各自层的同时的厚度和电极电位的测定变成了一个越来越重要的需求。***的多镀层组成为不含硫的半光亮镍层和含硫的光亮镍层。这两个镍层?reg;间足够的电位差导致了光亮镍层优先腐蚀于半光亮镍层。这种次序也就延迟了整个镍层的穿透速度，并且给了基材相对于单镀层更好的防腐保护。

COULOSCOPE® CMS STEP可以通过***于电位-时间表中相关部分的双指针来方便地测出镀层厚度和电位差。这个图表能够外部保存或通过RS232转换到PC电脑中。

涂装 相关仪器：涂层测厚仪，漆膜硬度测试仪，电解膜厚仪，黏度计/粘度计，X射线测厚仪，附着力测试仪，微型光泽仪，分光色差仪，雾影仪，反射率测定仪，光谱仪，涂膜干燥时间记录仪，标准光源箱