| 产品型号: | EX-3000 | |||
| 品牌:日本电测 | ||||
| 产品简介: | ||||
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| 主要技术参数: | ||||
| 仪器特点: | ||||
| 搭载MS-WINDOWS系统(优越的操作性与高精度测定) | ||||
| 使用与IBM PC兼容个人电脑,采用MS-WINDOWS软体,使用时多彩多姿。 | ||||
| 采用二种滤波器 | ||||
| 用用数位式滤波器外另有机械式滤波器(两种滤波器),在测定时,若是最适当的条件下, | ||||
| 经常可得到最高的精度。 | ||||
| 准值仪5种孔径内藏式 | ||||
| 最小的准值仪孔径仅0.1 mm,可测定极微小的部品。 | ||||
| 标准:0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另备有2种特别规格可供选购。 | ||||
| 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5 | ||||
| 0.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5 | ||||
| 自动测定测量台 | ||||
| 利用鼠标来调整测量位置,非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时,可连续自动测定, | ||||
| 利用座标补正、连结频道,来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。 | ||||
| 优越的显示机能 | ||||
| 测定部显示尽像的表示 | ||||
| X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置,可由倍率 | ||||
| 率更机能来实现尽面上测出物放大。 | ||||
| 在膜厚测定中的能谱表示 | ||||
| 由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示,操作简单。 | ||||
| 提长资料处理的速度 | ||||
| 充实测量报告的作成机能 | ||||
| 采用MS-WINDOW软件,测定画的撷取,非常简便,可充衬测量报告的制作机能。可同时间 | ||||
| 隔处理多项工作,机器在测量中亦可处理其它工作:包括如测量报告的制作。 | ||||
| 测定物膜厚附着分布表示 | ||||
| 以三次元图案来表示测定物膜厚附着状态的分布,作判定时一目了然。 获得安心的保证性。 | ||||
| 自己诊断机能及X线管保食机能 | ||||
| 自己诊断机能,迅速的对策来排除机器的因扰。附有X线管的使用时间及耐久时间表示机能, | ||||
| 可加强保养的安全性。 | ||||
| 仪器详细介绍: | ||||
| 1. X线源:油浸式1.2mA小型微小焦点X线管. 50kV管电压,可变管电压。 | ||||
| 2. 照射方式:由上而下垂直照射方式。 | ||||
| 3. 检出器:比例计数管。 | ||||
| 4. 滤波器:采用 Co 和 Ni 双滤波器及数字式滤波器,可单一或同时使用。 | ||||
| 5. 准直仪:Collimator 采用五种孔径一体成型式,可自动切换使用。 | ||||
| 0.1,0.2,0.5,1.0,2.0φ㎜. | ||||
| (选购) 0.05×0.5,0.05,0.1,0.2,0.5φ㎜. | ||||
| (选购) 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5φ㎜. | ||||
| 6. 样品观测系统:彩色CCD及高画质显示屏。 | ||||
| 7. 多能谱分析器:使用256高频分析器,光谱自动分析,在执行测量及运算时,非常快速。 | ||||
| 贰. 计算机操作部: | ||||
| 8. 计算机系统:(※仅供参考) | ||||
| IBM 兼容中文个人计算机. | ||||
| CPU:Intel Celeron 1GHz. | ||||
| RAM:128 MB. | ||||
| Floppy Disk:3.5 ×1, 40倍速 CD-ROM ×1. | ||||
| Hard Disk:40 GB. | ||||
| 17" 高画质显示屏. | ||||
| EPSON彩色喷墨式打印机。 | ||||
| 9. 本机型(CO**OS-1X系列)之操作系统采中文窗口(Windows98)对话式操作,非常简便。 | ||||
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| 参. 特性说明: | ||||
| 10. 测量项目: | ||||
| 单层膜厚测定. | ||||
| 2层膜厚测定. | ||||
| 3层膜厚测定. | ||||
| 无电解镍膜厚测定. | ||||
| 合金膜厚成份比同时测定. | ||||
| 元素的光谱峰值测定分析. | ||||
| 11. 测量材质:原子序22(Ti) ~ 82(Pb)为激发法测量。 原子序22以下为吸收法测量。 | ||||
| 12. 测量范围:原子序22 ~ 24 , 约 0.2 ~ 20 um. 原子序25 ~ 40 , 约 0.1 ~ 30 um. 原子序 | ||||
| 41 ~ 51 , 约 0.2 ~ 70 um. 原子序52 ~ 82 , 约 0.05~ 10 um. | ||||
| 13. 测量机能: | ||||
| 同一点重复测定机能 | ||||
| 输出形式设定. | ||||
| 能谱测定. | ||||
| 14. 测量条件或膜厚规格可以保存. | ||||
| 当要测量相同的制品时,若测量条件已储存,可以马上进行测量。 | ||||
| 最大检量线档案数:可登录储存100组档案。 | ||||
| 最大测量档案数 :可登录储存300组档案。 | ||||
| 15. 档案记录: | ||||
| 每一个批号可储存无限个测量数据.(因所使用的计算机之容量大小而定) | ||||
| 每一个测量档案可输入及储存公司名称. | ||||
| 每个批号可单独执行统计处理. | ||||
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