CMI165手持式表面铜测厚仪
牛津仪器CMI165,是世界***带温度补偿功能的面铜测厚仪;具有温度补偿功能,测量结果***且不受铜箔温度影响;配有探针防护罩,确保探针的耐用性,可以在恶劣的使用条件下进行正常检测。
项目
详细描述
主要特点
可测试高/低温的PCB铜箔,减少试样成本;
可在PCB钻孔、剪裁、电镀等工序前进行相关铜箔来料检验;
可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试;
可用于电镀铜后的面铜厚度测试。
性能
利用微电阻原理通过四针式探头进行铜厚测量,符合EN14571测试标准,
强大的数据统计分析功能,包括数据记录、平均数、标准差和上下限提醒功能,
数据显示单位:mil、μm、oz,
操作界面:英文、简体中文,
仪器无需特殊规格标准片,可测量蚀刻后的线型铜箔厚度,线宽可低至204μm(8mils),
厚度测量范围:
化学铜:0.25--12.7μm(0.01--0.5mils),
电镀铜:2.0--254μm(0.1--10mils),
仪器再现性:0.08μmat20μm(0.003milsat0.79mils),
SRP-T1探针:可自行替换,更换后无需校准即可使用;
具有照明功能,有助于线型铜箔检测时准确***。
硬件特征
测试数据通过USB2.0高速传输,可保存为Excel格式文件,
仪器为工厂预校准,
客户可根据不同应用灵活设置仪器,
测量模式:固定测量、连续测量、自动测量模式,
仪器可以储存9690条检测结果(测试日期时间可自行设定),
仪器使用普通AA电池供电。
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