TIS轮胎检测系统
TIS是***新的数字X射线轮胎扫描检测系统，采用CMOS X射线成像技术，仅10秒种就可完成宽度为1370mm的高精度360°轮胎扫描检测。TIS很容易与现有系统配套，通过专门设计的检测工作站就可以改造原有的Luminex系统。
轮胎转动的同时，高精度图像将实时并自动在计算机的屏幕上滚动，可以随时将图像暂停或打印。
技术参数：
|
探测器：
|
CMOS分割相阵，有效区长1370mm，分为5个无缝部分
|
|
兼容性：
|
改造Luminex轮胎检测系统以增加图象质量和系统使用寿命
|
|
图像精度：
|
80μm (.003")/个象素单元，对于轮胎的表面采用高速检测，300-400μm的精度，一般执行13个象素单元
|
|
灵敏度：
|
2-2T
|
|
X-射线要求：
|
240 kV恒压管
|
|
扫描速度：
|
305mm/s
|
|
图像体积：
|
150KB/平方英寸单元像素，单个轮胎图像在13个象素大约4MB
|
|
工作站：
|
>3.2GHz 工业PC，1GB RAM，120GB双硬盘
|
|
软件：
|
强大的软件包（含X射线图像采集/放大、测量、扫描控制、图像储存、输出及打印）
|
|
电源：
|
110-220 V，50-60 Hz，120 W（包括工作站和扫描器的总功率）
|
|
机壳：
|
带导轨的灰镀层铝板
|