菲希尔FISCHERSCOPE?XDL-B膜厚仪是一款基於Windows? 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射***系統。測量方向從上往下。
XDL?-B 的特色是獨特的距離修正方法。DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別。對於XDL?-B 帶測量距離固定的X-射******，這一特性提供了能在複雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現簡便測量的可能性。在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。
典型的應用範圍如下：
***一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析***鍍溶液中的金屬離子濃度。 具有强大功能的X-射线XDVM-μ带WinFTM? V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种***元素的多镀层的厚度和成分。有需要的有友请来电咨询希望我们能成为长期的合作伙伴。联系人：谢R 13691938370 电话：0755-29371652 传真：29371653 ***:1162400920 地址：宝安中心区宏发中心大厦1110-1112