菲希尔XDLM/XULM/XAN膜厚测试仪可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或***被测物。
薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。此外，适用于无铅焊锡的应用。
备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
菲希尔XDL|XDLM|XUL|XULM系列荧光金属镀层测量仪, X-Ray镀层测厚仪：
fischer XDL 应用测量从机械部件到电路板各种样品的经济型机种
fischer XUL 系列 XUL|XULM|XDLM应用范围较广的标准型镀层测量仪
fischer XDVM系列实现了超微小面积，高精度测理的高功率镀层测量仪
fischer XDV XAN 系列 可满足所有镀层厚度测量需求的双检测器型镀层测量仪
fischer XAN 系列 XAN120|XAN150|合适微小样品的膜厚测量与RoHs分析的高精度X射线荧光镀层厚度测量仪 菲希尔XDLM/XULM/XAN膜厚测试仪应用于钟表.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们金东霖科技始终的目标.联系人：王生：13316557996 电话：0755-29371655 传真：0755-29371653 地址：宝安中心区宏发中心大厦
金霖电子(香港)有限公司
普通会员第17年
|
公司主营：膜厚仪.膜厚测试仪