XDL,XUL,XAN膜厚测试仪

XDL,XUL,XAN膜厚测试仪，是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合国际标准来进行非***及不接触的测量。除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。至于需要测量电镀槽内的金离子停含量的浓度也是十分简单，菲希尔XDL,XUL,XAN膜厚测试仪，极适合对一些较小的样板进行测量，尤其是对手表、端子、小螺丝、螺丝帽、一些电气产品中的小五金零件等等，操作员只需将测试面朝下，不论大小的样品可直接放进测量室内，不用调距离，只需对准位置，便可立即测量，这不单可以令测量更快速，还可以避免因在调校测量距离错误时影响计算厚度。菲希尔XDL,XUL,XAN膜厚测试仪，应用于各种大小不同的五金的测量（如：小螺丝、手表、眼镜、端子），大面积的样品（如：线路板），亦可测量***含量（只需要将***放进别外选购的测量杯便可以进行测量，这样便可以随时随地的监察电镀槽的***状况如何，有效率地控制电镀生产，测***成分可达到重复性约0.1%。菲希尔XDL,XUL,XAN膜厚测试仪，测量***同行15年，在同测量领域独领风蚤，成为膜厚仪***，精准的数据，******的技术，严格的品质要求，可靠、可信、快速的服务，及一些***意见与技术扶持，值得您的信赖。联系人：王生：13316557996   电话：0755-29371655  传真：0755-29371653   地址：宝安中心区宏发中心大厦