探针，AFM探针，原子力显微镜探针，veeco探针，Bruker探针

探针，AFM探针，原子力显微镜探针，veeco探针，Bruker探针

 

探针的工作模式：主要分为扫描(接触)模式和轻敲模式

探针的结构：悬臂梁+针尖

探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。

制作工艺：半导体工艺制作

 

常见的探针类型：

1. 导电探针（电学）：金刚石镀层针尖，性能比较稳定

2 .压痕探针：金刚石探针针尖（分为套装和非套装的）

3. 氮化硅探针：接触式（分为普通的和锐化的）

4. 磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备

5. 电化学探针（STM）: 电学接触式和电学轻敲式

6. FIB大长径比探针：测半导体结构，专为测量深的沟槽（深孔）以及近似铅垂的侧面而设计生产的。

 

Popular Probes & Applicati***

Application: High resolution topographical imaging of a wide variety of samples.

Probe Model: TESP, RTESP, OTESPA , NCHV, VL300

Specificati***: 40 N/m, 300 kHz

AFM Mode: Tapping

 

Application: High resolution imaging for softer samples (Polymers, biological, and thin films)

Probe Model: FESP, RFESP, OLTESPA, FMV, VLFM

Specificati***: 2.8 N/m, 75 kHz

AFM Mode: Tapping or Force Modulation

 

Application: Magnetic and electrical measurements.

Probe Model: MESP, SCM-PIT, OSCM-PT, SCM-PIC

Specificati***: 2.8 N/m, 75 kHz

AFM Mode: MFM, EFM, SCM, Conductive AFM / TUNA

 

Application: Liquid Imaging, Force Measurement and pulling, Contact mode imaging in air

Probe Model: MSCT, NP-S, OTR4, OBL

Specificati***: .006-.58 N/m

AFM Mode: Contact or Tapping

 

 

模式常用探针型号

接触模式

–ESP

–MPP-31100-10

–SNL-10

–DNP-10

–MLCT

–MSNL-10

 

轻敲模式

空气液体

–MPP-11100-10 (RTESP)

–TESP

–OTESPA

–FESP – SNL-10

–DNP-10

–MLCT

–MSNL-10

 

峰值力轻敲模式

–ScanAsyst-Air

–ScanAsyst-Fluid

–ScanAsyst-Fluid+

 

智能成像模式

–ScanAsyst-Air

–ScanAsyst-Fluid

–ScanAsyst-Fluid+

–ScanAsyst-Air-HR

 

轻敲模式& 相位成像模式

–MPP-11100-10 (RTESP)

–TESP

–OTESPA

–FESP

 

定量纳米力学性能测试模式

–MPP-11120-10 (RTESPA)

–MPP-12120-10

–MPP-13120-10

–PDNISP-HS

–ScanAsyst-Air

 

磁力显微镜模式

–MESP

–MESP-HM

–MESP-LM

–MESP-RC

 

静电力显微镜模式

–SCM-PIT

–MESP

–MESP-RC

–OSCM-PT

 

峰值力隧道电流显微镜&导电原子力显微镜模式

–SCM-PIC

–SCM-PIT

–DDESP-FM

–PFTUNA

 

更多探针信息，请咨询铂悦仪器，谢谢！

 

 

 

 

DNP-10

氮化硅探针

用于接触式或轻敲模式或力的测量。

非套装，适用于BioScope AFM 及Dimension 系列SPM。

每个基片有4个悬臂，弹性系数为0.06 - 0.58 N/m，共振频率为18-65 KHz

包装数量：10根/盒

 

针尖参数

几何：各向异性

针尖高度(h): 2.5 - 8.0µm

正面角(FA): 15 &plu***n;2.5°

背面角(BA): 25 &plu***n;2.5°

侧面角(SA): 17.5 &plu***n; 2.5°

针尖曲率半径(Nom): 20nm

针尖曲率半径(Max): 60nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 4µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 0 - 7µm

 

 

 

HMX-10

 

HarmoniX探针

用于纳米材料样品的属性映射，标准样品的硬度范围在10MPa到10GPa之间。HMX探针更适用于硬而粘的样品表面。弹性系数2 N/m, 共振频率为60 kHz, 铝反射涂层

包装数量：10根/盒

 

针尖参数       

独特的“离轴”设计，适用于Veeco HarmoniX模式，tr/fl=17N/m。

几何：各向异性

针尖高度(h): 4 -10µm

正面角(FA): 25 &plu***n; 2.5°

背面角(BA): 15 &plu***n; 2.5°

侧面角(SA): 22.5 &plu***n; 2.5°

针尖曲率半径(Nom): 10nm

针尖曲率半径(Max): 12nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 10µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 5 - 15µm

 

 

MLCT

氮化硅探针
用于接触式、轻敲式或力的测量，高灵敏度，弹性系数极低。

每个基片有6个悬臂，弹性系数为0.01 - 0.50 N/m

包装数量：10根/盒

 

针尖参数

几何：各向异性

针尖高度(h): 2.5 - 8.0µm

正面角(FA): 15 &plu***n; 2.5°

背面角(BA): 25 &plu***n; 2.5°

侧面角(SA): 17.5 &plu***n; 2.5°

针尖曲率半径(Nom): 20nm

针尖曲率半径(Max): 60nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 4µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 0 - 7µm

 

 

MLCT-EXMT-A1

氮化硅探针
用于接触式、轻敲式或力的测量，高灵敏度，弹性系数极低；

适用于Veeco Explorer 及Caliber 原子力显微镜等；

每个基片有1个悬臂，弹性系数为0.05 N/m

包装数量：10根/盒；套装

 

针尖参数

几何：各向异性

针尖高度(h): 2.5 - 8.0µm

正面角(FA): 15 &plu***n; 2.5°

背面角(BA): 25 &plu***n; 2.5°

侧面角(SA): 17.5 &plu***n; 2.5°

针尖曲率半径(Nom): 20nm

针尖曲率半径(Max): 60nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 4µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 0 - 7µm

 

 

MLCT-MT-A

氮化硅探针
用于接触式、轻敲式或力的测量，高灵敏度，弹性系数极低；

适用于Veeco CP-II及Innova 原子力显微镜等；

每个基片有1个悬臂，弹性系数为0.05 N/m

包装数量：10根/盒；套装

 

针尖参数

几何：各向异性

针尖高度(h): 2.5 - 8.0µm

正面角(FA): 15 &plu***n; 2.5°

背面角(BA): 25 &plu***n; 2.5°

侧面角(SA): 17.5 &plu***n; 2.5°

针尖曲率半径(Nom): 20nm

针尖曲率半径(Max): 60nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 4µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 0 - 7µm

 

 

MLCT-O10

氮化硅探针

用于接触式、轻敲式或力的测量，高灵敏度，弹性系数极低；

无针尖设计，为用户的特殊应用提供了个性化的设计，如分子或粒子针尖；

每个基片有6个悬臂，弹性系数为0.01 - 0.50 N/m

包装数量：10根/盒
 

 

MLCT-UC

氮化硅探针

用于接触式、轻敲式或力的测量，高灵敏度，弹性系数极低；

每个基片有6个悬臂，弹性系数为0.01 - 0.50 N/m，无涂层

包装数量：10根/盒
注意：如果用户没有添加反射涂层的话不能用于探测成像或力测量。

 

针尖参数

几何：各向异性

针尖高度(h): 2.5 - 8.0µm

正面角(FA): 15 &plu***n; 2.5°

背面角(BA): 25 &plu***n; 2.5°

侧面角(SA): 17.5 &plu***n; 2.5°

针尖曲率半径(Nom): 20nm

针尖曲率半径(Max): 60nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 4µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 0 - 7µm

 

 

MPP-31123-10

Cont20: 弹性系数0.9N/m, 共振频率20kHz, 旋转针尖, 铝反射涂层

适用于Innova /CP-II SPMs.

包装数量：10根/盒；套装

 

针尖参数

几何：各向异性

针尖高度(h): 15 - 20µm

正面角(FA): 15 &plu***n; 2°

背面角(BA): 25 &plu***n; 2°

侧面角(SA): 17.5 &plu***n; 2°

针尖曲率半径(Nom): 8nm

针尖曲率半径(Max): 12nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 15µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 5 - 25µm

 

 

MSCT

氮化硅探针

用于接触式、轻敲式或力的测量，高灵敏度，弹性系数极低；

每个基片有6个悬臂，弹性系数为0.01 - 0.50 N/m，有锐化处理，

包装数量：10根/盒

 

针尖参数

几何：各向异性

针尖高度(h): 2.5 - 8.0µm

正面角(FA): 15 &plu***n; 2.5°

背面角(BA): 25 &plu***n; 2.5°

侧面角(SA): 17.5 &plu***n; 2.5°

针尖曲率半径(Nom): 10nm

针尖曲率半径(Max): 40nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 4µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 0 - 7µm

 

 

MSNL-10

属于SNL (Sharp Nitride Lever)探针系列.
MSNL 探针将硅针尖的锐利和氮化硅悬臂的低弹性指数高灵敏度***结合，在任何样品任何媒介中都能得到一种***的高分辨率和力量控制
每个基片有6个悬臂，弹性系数为0.01 - 0.50 N/m，有锐化处理

包装数量：10根/盒

 

探针参数

几何：各向异性

针尖高度(h): 2.5 - 8.0µm

正面角(FA): 15 &plu***n; 2.5°

背面角(BA): 25 &plu***n; 2.5°

侧面角(SA): 22.5 &plu***n; 2.5°

针尖曲率半径(Nom): 2nm

针尖曲率半径(Max): 12nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 4µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 0 - 7µm

 

 

NP-10

氮化硅探针

用于接触式、轻敲式和力的测量

每个基片有4个悬臂，弹性系数为0.06 - 0.58 N/m

包装数量：10根/盒

 

针尖参数

几何：各向异性

针尖高度(h): 2.5 - 8.0µm

正面角(FA): 15 &plu***n; 2.5°

背面角(BA): 25 &plu***n; 2.5°

侧面角(SA): 17.5 &plu***n; 2.5°

针尖曲率半径(Nom): 20nm

针尖曲率半径(Max): 60nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 4µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 0 - 7µm

 

 

NPG-10

用于接触式、轻敲式和力的测量

每个基片有4个悬臂，弹性系数为0.06 - 0.58 N/m，Au涂层针尖

包装数量：10根/盒

 

针尖参数

针尖表面的黄金涂层使针尖功能化更容易(如：使用硫醇化学).

几何：各向异性

针尖高度(h): 2.5 - 8.0µm

正面角(FA): 15 &plu***n; 2.5°

背面角(BA): 25 &plu***n; 2.5°

侧面角(SA): 17.5 &plu***n; 2.5°

针尖曲率半径(Nom): 30nm

针尖曲率半径(Max): 90nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 4µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 0 - 7µm

 

 

OBL-10

每个基片有2个悬臂，弹性系数为0.006 - 0.03N/m，Au涂层针尖

包装数量：10根/盒

 

针尖参数

针尖表面的黄金涂层使针尖功能化更容易(如：使用硫醇化学)..

几何：各向异性

针尖高度(h): 5 - 10µm

正面角(FA): 0 &plu***n; 1°

背面角(BA): 45 &plu***n;1°

侧面角(SA): 45 &plu***n;1°

针尖曲率半径(Nom): 30nm

针尖曲率半径(Max): 40nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 0µm

 

 

RFESP

硅探针

弹性指数3N/m, 共振频率75kHz, 旋转针尖, 无涂层

包装数量：10根/盒

 

针尖参数

几何：各向异性

针尖高度(h): 15 - 20µm

正面角(FA): 15 &plu***n; 2°

背面角(BA): 25 &plu***n; 2°

侧面角(SA): 17.5 &plu***n; 2°

针尖曲率半径(Nom): 8nm

针尖曲率半径(Max): 12nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 15µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 5 - 25µm

 

 

RTESP

硅探针

弹性指数40N/m, 共振频率300kHz, 旋转针尖, 无涂层

包装数量：10根/盒

 

针尖参数

几何：各向异性

针尖高度(h): 15 - 20µm

正面角(FA): 15 &plu***n; 2°

背面角(BA): 25 &plu***n; 2°

侧面角(SA): 17.5 &plu***n; 2°

针尖曲率半径(Nom): 8nm

针尖曲率半径(Max): 12nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 15µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 5 - 25µm

 

 

SNL-10

Bruker's New Sharp Nitride Lever
将硅针尖的锐利和氮化硅悬臂的低弹性指数高灵敏度***结合，在任何样品任何媒介中都能得到一种***的高分辨率和力量控制
每个基片有4个悬臂，弹性系数为0.06 - 0.58N/m，锐化的硅针尖

包装数量：10根/盒

 

针尖参数

几何：各向异性

针尖高度(h): 2.5 - 8.0µm

正面角(FA): 15 &plu***n; 2.5°

背面角(BA): 25 &plu***n; 2.5°

侧面角(SA): 22.5 &plu***n; 2.5°

针尖曲率半径(Nom): 2nm

针尖曲率半径(Max): 12nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 4µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 0 - 7µm

 

 

TESP-SS

超尖探针，弹性指数42N/m, 共振频率320kHz, 针尖曲率半径2-5nm, 无涂层

包装数量：10根/盒

 

针尖参数

几何：各向异性

针尖高度(h): 10 - 15µm

正面角(FA): 25 &plu***n; 2.5°

背面角(BA): 15 &plu***n; 2.5°

侧面角(SA): 22.5 &plu***n; 2.5°

针尖曲率半径(Nom): 2nm

针尖曲率半径(Max): 5nm

针尖缩进(TSB)(Nom): 15µm

针尖缩进范围(TSB)(RNG): 5 - 25µm