ENJ2005-B系统是专为测试半导体分立器件而设计。能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关组合器件、器件阵列，测试种类如下：
1) 二极管 DIODE
2) 晶体管 TRANSISTOR（NPN型/PNP型）
3) 稳压（齐纳）二极管 ZENER
4) 结型场效应管 J-FET （N-沟/P-沟，耗尽型/增强型）
5) MOS场效应管 POWER MOSFET（N-沟/P-沟）
6) 三端稳压器 REGULATOR（正电压/负电压，固定/可变）
7) 光电耦合器 OPTO-COUPLER（NPN型/PNP型）
8) 可控硅整流器（普通晶闸管） SCR
9) 双向可控硅 （双向晶闸管） TRIAC
10) 绝缘栅双极大功率晶体管 IGBT（NPN型/PNP型）
11) 光电逻辑器件 OPTO-LOGIC
12) 双向触发二极管 DIAC
13) 固态过压保护器 SSOVP
14) 光电开关管 OPTO-SWITCH
15) 硅触发开关 STS
16) 继电器 RELAY
17) 金属氧化物压变电阻 MOV
18) 压变电阻 VARISTOR
19) 达林顿阵列 DARLINTON