覆层测厚仪|薄膜测厚仪TT240

涂层测厚仪概述

TT240覆层测厚仪|薄膜测厚仪是一种手持式测量仪，它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；是材料保护***必备的仪器。

符合以下标准：

• GB/T 4957-1985 涡流方法
• JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
• JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪

涂层测厚仪技术参数

• 测头类型：N
• 测量原理：电涡流
• 测量范围：0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
• 低限分辨力：1µm(10um以下为0.1um)
• 探头连接方式：分体式导线连接
• 示值误差：
  1. 一点校准(um)：&plu***n;[3%H+1.5]
  2. 两点校准(um)：&plu***n;[（1%~3%）H+1.5]
• 测量条件：
  1. ***小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10
  2. 基体***小面积的直径(mm)：ф5
  3. ***小临界厚度(mm)：0.3
• 温湿度：0~40℃| 20%RH～90%RH
• 统计功能：平均值、***大值（MAX）、***小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
• 工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
• 测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
• 上下限设置：无
• 存储能力：350个测量值
• 打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑
• 关机方式：手动和自动
• 电源：二节AA型碱性电池
• 外形尺寸：152×47×35mm
• 重量：370g