抗干扰介质损耗测试仪，抗干扰介质损耗测试仪-苏尔电气

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一、抗干扰介质损耗测试仪产品介绍
1、全自动化测试，中文操作界面，用户使用方便；仪器自带帮助菜单，方便用户对仪器进行故障分析。
2、抗干扰能力强，在500KV（甚至更高）电压等级下的变电站的现场也能保持结果稳定、可靠，不仅能单频测试，也可实现45/55Hz双频测试。
3、仪器的试验电压实行“缓升缓降”，有效的防止“容升”效应，保护试品和仪器的安全。
4、变频抗干扰介质损耗测试仪仪器实现过流过载的预前保护，能迅速切断试验电源，以保护试品和仪器的安全。
5、仪器测试电缆采用硅橡胶以及其他特种绝缘材料复合制作而成，轻便柔软，10KV电压等级下可拖地使用。
6、仪器附带电子万年历和大容量存储空间，可记忆100组测试数据。
7、仪器带有标准的RS232接口，仪器内大量测试数据可上传给大型计算机使用。
二、抗干扰介质损耗测试仪产品特性
  SEBJ-JW抗干扰介质损耗测试仪是用于超高压现场介损的测量,用变频抗干扰和傅立叶数字滤波技术,保持强电场干扰下测量数据稳定、可靠;测量结果由大屏幕双色液晶屏清晰显示,全中文操作界面,使用极其方便。

三、抗干扰介质损耗测试仪现场试验注意事项
如果使用中出现测试数据明显不合理，请从以下方面查找原因：
1搭钩接触不良
现场测量使用搭钩连接试品时，搭钩务必与试品接触良好，否则接触点放电会引起数据严重波动！如高压挂在引流线上时，因引流线氧化层太厚，或风吹线摆动，易造成接触不良。
2接地接触不良
 接地不良会引起仪器保护或数据严重波动。应刮净接地点上的油漆和锈蚀，务必保证0电阻接地！如果测量接地试品，试品地和仪器地应共地连接，保持地电位一致。
3直接测量CVT或末端屏蔽法测量电磁式PT
 直接测量CVT的下节耦合电容会出现负介损，应改用自激法。
 用末端屏蔽法测量电磁式PT时由于受潮引起“T形网络干扰”出现负介损，吹干下面三裙瓷套即可。也可改用常规法或末端加压法测量。
4空气湿度过大
空气湿度大使介损测量值异常增大（或减小甚至为负）且不稳定，必要时可加屏蔽环。因人为加屏蔽环改变了试品电场分布，此法有争议，可参照有关规程。
5测试线
由于长期使用和连接，易造成测试线芯线和屏蔽短路或插座接触不良，用户应经常维护测试线；
测试标准电容试品时，应使用全屏蔽插头连接，以消除附加杂散电容影响，否则不能反映出仪器精度；
自激法测量CVT时，高压线应吊起悬空，否则对地附加杂散电容和介损会引起测量误差。
6工作模式选择
接好线后请选择正确的测量工作模式（正、反等），不可选错。干扰环境下应选用45Hz/55Hz变频抗干扰模式。
7试验方法影响
由于介损测量受试验方法影响较大，应区分是试验方法误差还是仪器误差。出现问题时可首先检查接线，然后检查是否仪器故障。
8仪器故障
 用万用表测量一下测试线的芯线和屏蔽是否短路；输入电源220V过高或过低；接地是否良好。
 用正、反接线测一下标准电容器或已知容量和介损的电容试品，如果结果正确，即可判断仪器没有问题。 
四、抗干扰介质损耗测试仪技术参数
1、环境温度：0 ～ 40℃（液晶屏应避免长时日照） 
2、相对湿度：30% ～ 70% 
3、供电电源：电压：220V&plu***n;10%、频率：50&plu***n;1Hz 
4、外形尺寸：长×宽×高 500mm×300mm×400mm 
5、重量： 约18Kg 
6、输出功率：0.6KVA 
7、显示分辩率：3位、4位（内部全是6位） 
8、测量范围及输出电压选择： 
    介质损耗（tgδ）：&plu***n;0.00～&plu***n;999% 
    试品电容容量（Cx）和加载电压： 
    2.5KV档:≤300nF（300000pF） 3KV档:≤200nF（200000pF） 
    5KV档:≤76nF（76000pF） 7.5KV档:≤34nF（34000pF） 
    10KV档:≤20nF（20000pF） 
9、基本测量误差： 
   介质损耗（tgδ）：1%&plu***n;7个字（加载电流20uA～500mA） 
   介质损耗（tgδ）：2%&plu***n;9个字（加载电流5uA～20uA） 
   电容容量（Cx）：1.5%&plu***n;1.5pF