***提供射频抗扰度测试系统_BCI大电流注入实验系统：ISO 11452-1 2005： ISO 11452-2 2004：ISO 11452-3：2001 ，ISO 11452-4 2005，ISO 11452-5 2002，GB/T 17619-2008：ISO 11452-1 2005：
标准
ISO 11452-1 2005： ISO 11452-2 2004：ISO 11452-3：2001 ，ISO 11452-4 2005，ISO 11452-5 2002，GB/T 17619-2008：
技术指标
★自由场抗扰度测试：依据标准ISO 11452-2，测试电平：100V/m，频率范围80MHz - 2GHz
★横电磁波(TEM)小室法：依据标准ISO11452-3，测试电平200V/m，频率范围0.01MHz-200MHz
★大电流注入法测试：依据标准ISO11452-4，测试电平200mA，频率范围1MHz-400MHz
★带状线抗扰度测试：依据标准ISO 11452-5，测试场强200V/m，频率范围100kHz-1GHz测试项目
A. 自由场法测试：
该试验方法是将电子电器组件(ESA) 暴露于由天线产生的辐射电磁场中进行试验。试验应在一个电波暗室内的台架上进行。台架应是木质或等效的非导电桌。
测试布置图
图-自由场法测试示意图
图-自由场法测试布置侧视图
B.横电磁波(TEM)小室法：
横电磁波(TEM)小室法适用频率范围：10kHz – 200MHz，测试场强200V/m（25瓦功放时
C.大电流注入法测试.
完全满足ISO11452-4测试标准,支持置换法测试和闭环法测试,支持共模注入和差模注入,全自动测试,使用一个电流注入钳完成全部频率范围的测试
主要技术参数
★频率范围100kHz－400MHz
★***大测试电平高于200mA
测试布置
校准示意图
测试示意图
图-BCI 测试布置图
D. 带状线法测试
ISO 11452-5规定的50欧姆非对称带状线，能产生***高200MHz的TEM-波。在TEM模式下带状线内部的场强分布是非常均匀的。带状线也能用于200MHz以上，此时工作于高频模式。高频模式下产生的场强特性和位置有关。TEM模式和高频模式的区别在于，TEM模式下，带状线中心的场强***大，到边缘逐渐变小；高频模式下，带状线中心的场强较小，到边缘逐渐增加，另外，在多模操作期间，某些区域的极化方向会改变。
测试布置
图-带状线测试系统配置
图-带状线测试布置示意图（默认单位mm） ISO 11452-2 2004：ISO 11452-3：2001 ，ISO 11452-4 2005，ISO 11452-5 2002，GB/T 17619-2008：